% {8 @; Y$ E) F
1. 適用范圍和目的
1.1 本標(biāo)準(zhǔn)適用于電流互感器和電壓互感器。對電容式電壓互感器的電容器部分應(yīng)按耦合電容器和電容分壓器相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行試驗(yàn)。 9 _, y3 @, O" e- U$ T5 j
1.2 本標(biāo)準(zhǔn)的目的是指局部放電的出廠試驗(yàn),當(dāng)制造廠與使用部分商定后,也可作為驗(yàn)收試驗(yàn)。
注 :10kV及以下的產(chǎn)品出廠試驗(yàn)允許采用抽樣試驗(yàn)的方法。抽樣方法按相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
1.3 本標(biāo)準(zhǔn)適用的最低電壓等級如下: % }9 n# Y2 _+ B5 S; ?& X
固體絕緣 Um=6.9kV
浸體浸漬絕緣 Um=69kV ! w7 ?( ~: ?5 h' S
其中 :Um-設(shè)備的最高電壓. / w! s8 ^7 {1 r5 \9 R
1.4 本標(biāo)準(zhǔn)可以適用于非慣用型(充氣或氣浸式等)的設(shè)備。這種設(shè)備與慣用型設(shè)備相比,尚缺乏足夠的經(jīng)驗(yàn),其許可的放電水平應(yīng)由制造廠與使用部分協(xié)商確定。?
試驗(yàn)線路 ; {' V- e- c# Q2 b: d* x/ `
2.1 電流互感器的局部放電試驗(yàn)線路如圖1所示。相對地電壓互感器的局部放電試驗(yàn)線路如圖2所示。

$ m2 K( L- _$ U9 G/ L
A點(diǎn)接地或者B點(diǎn)接地。
國家標(biāo)準(zhǔn)局 1985-11-22發(fā)布 1985-12-01實(shí)施
只要可能鐵心和金屬外殼均接到二次繞組的端子 (K1,K2)上。
電容型電流互感器的地屏應(yīng)接到二次繞組的端子上。

, c% p4 q. l1 ~! K
A點(diǎn)接地或者B點(diǎn)接地。 . g5 f+ F$ S$ B1 ]% \+ X+ s4 E
只要可能鐵心和金屬外殼均接到二次繞組的端子 (a,x)上。
一次繞組端子與地之間的試驗(yàn)電壓可用外施加壓 ,也可由二次繞組感應(yīng)出。 + R4 r* T7 ^9 X% z+ M1 V! H
注 :圖1和圖2中,高壓試驗(yàn)就壓器的電容可以作耦合電容器使用,此時(shí),濾波器Z便可省掉。 2 P( d+ K6 b8 {6 f: E; `
2.2 相對相電壓互感器的局部放電試驗(yàn)線路應(yīng)與相對地電壓互感器一樣(見圖2),但應(yīng)向兩個(gè)高壓端子輪流施加電壓,共進(jìn)行兩次試驗(yàn)。當(dāng)一個(gè)高壓端子加壓時(shí),另一個(gè)高壓端子應(yīng)接到低壓端子上。
2.3 經(jīng)制造廠與使用部門協(xié)商,也可能采用與本標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的試驗(yàn)線路等效的其他試驗(yàn)線路。 " A" K4 r& G! ?
3. 測量儀器 L1 n" }: `) z& r# X3 @) @3 _. b
3.1 局部放電的測量儀器是指把測量阻抗兩端的電壓變成與所測成比例的讀數(shù)的儀器。所用儀器應(yīng)符合相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)條款的規(guī)定。 ( ^; p) @' a* M& j- ?6 ]7 p6 V8 Z
3.2 儀器應(yīng)根據(jù)所要測量的放電參數(shù)來選擇.在本標(biāo)準(zhǔn)中優(yōu)先采用視在電荷q,它以皮庫*(PC)來表示。 - _: u0 o) a7 t3 x) D
注 :局部放電采用寬頻帶(頻帶寬度至少是100kHz)測量時(shí),具有某些優(yōu)點(diǎn),特別對具有分布電容和電感的試品更加明顯。對于互感器一般使用窄頻帶法測量局部放電就可以了,尤其是當(dāng)測量頻率可能在0.15～ ! f6 }- y2 a9 f( k6 J. w0 u* i" j
2MHz的范圍內(nèi)選擇時(shí)更可滿足。
測量時(shí)優(yōu)先采用的頻率是 0.5和1MHz。如有可能,最好是能夠給出最高靈敏度的頻率下進(jìn)行局部放電測量。 1 b) w3 u" q9 ?, j8 g; k: s
4. 校正 # y7 K" x4 ]0 [1 i
指示回路的指示值來確定局部放電的脈沖強(qiáng)度是通過對所測結(jié)果進(jìn)行正確的校正來實(shí)現(xiàn)的。校正應(yīng)包括測定測量儀器本身的特性以及接在整個(gè)試驗(yàn)回路中儀器的校正。
皮庫即舊稱微微庫。 5 j/ Q# t5 v( W- g( t
4.1 儀器特征的測定 6 B/ u4 d& ^7 `: Q. H1 x x
儀器特性的測定應(yīng)按相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定進(jìn)行。 4 {; q1 s) J. N2 \. d+ I% t J5 [
儀器的校驗(yàn)應(yīng)根據(jù)經(jīng)驗(yàn)全部或部分地定期進(jìn)行 0 Z$ V% \$ d& ^7 l
4.2 整個(gè)試驗(yàn)回路中儀器的校正
這個(gè)校正的目的是從指示回路的指示值求出試品中發(fā)生的局部放電強(qiáng)度。回路的特性 ,特別是試品電容與耦合電容之比Cx/Ck對校正結(jié)果影響很大,因此在改變上述因素時(shí),必須對回路重新校正。 ' {# `4 Z1 ~7 [( v5 B( b' N
整個(gè)試驗(yàn)回路的校正是通過校正裝置在試品兩注入一個(gè)已知電荷來實(shí)現(xiàn)的。校正裝置包括一臺電壓幅值為 U0的階躍波發(fā)生器和一個(gè)小的、電容值為C0的電容器。其接線如圖3所示。

點(diǎn)接地或者B點(diǎn)接地。 ! F, J3 x% \+ ?) P& w Q
為使校正保持有效 ,校正用電容應(yīng)不大于0.1(Cx+CkCm-Ck+Cm)式中Cm為測量阻抗兩端的電容;校正脈沖的上升時(shí)間應(yīng)不大于0.1μs;脈沖衰減時(shí)間在100μs的范圍內(nèi)。在此條件下,校正脈沖等價(jià)于一個(gè)放電量值q0; 注 :校正時(shí)C0不宜小于10皮法*(PF),同時(shí)C0至試品及C0至階躍波發(fā)生器的引線應(yīng)盡量短以免引起校正誤差。?
試驗(yàn)
v5.1 局部放電試驗(yàn)應(yīng)在試品所有絕緣試品結(jié)束以后進(jìn)行. . {- t) @% r' S9 S+ ]
5.2 對試驗(yàn)電壓的要求:

電壓波形應(yīng)接近正弦形。當(dāng)波形畸變時(shí) ,應(yīng)以峰值除以2作為試驗(yàn)電壓值。 ) R! F( z* D* e8 c9 ]: Z/ E
5.3 試驗(yàn)程序:
試驗(yàn)應(yīng)在不大于 1/3測量電壓下接通電源,升至預(yù)加電壓,保持10s以上;然后不間斷地降到測量電壓,保持1min以上,再讀取放電量;最后降以1-3測量電壓以下,方能切除電源。
注 :也可在工頻耐壓之后,當(dāng)試驗(yàn)電壓降低到要求的電壓值時(shí),接著進(jìn)行局部放電測量。如果測得的局部放電量超過表中所列的允許值,則仍應(yīng)按上述規(guī)定單獨(dú)進(jìn)行局部放電試驗(yàn)。
皮法即舊稱微微法。
允許的局部放電水平(見表) ^! Q X9 j! w& @4 d

( Z7 e8 j4 d% k2 Q. k
7.1 讀取視在放電量值時(shí)應(yīng)以重復(fù)出現(xiàn)的、穩(wěn)定的最高脈沖訊號計(jì)算視在放電量。偶而出現(xiàn)的較高的脈沖可以忽略。 6 [" y3 E v( M+ ?, y) A
7.2 測量回路的背景噪音水平應(yīng)低于允許放電水平的50%。當(dāng)試品的允許放電水平為10PC或以下時(shí),背景噪音水平可達(dá)到允許放電水平的100%。 8 |; b7 a, F0 i, P6 _* E- J) o
測量中明顯的干擾可不予考慮。
.試驗(yàn)結(jié)果的判斷 , e( a5 c* }. o, c
如在施加電壓的過程中 ,電壓不產(chǎn)生突然下降,而且在施加測量電壓期間,測得的視在放電量不超過表中所規(guī)定的允許值,則判定被試品合格。
只有在制造廠與使用部門商定后,才能按此電壓施加。