案例背景

某車載電池充電異常，經新陽檢測中心初步分析是內部FPC連接板接觸不良導致。連接板由FPC+鎳片+SMD元件+PI膜構成，如下圖：

分析過程

X-Ray檢測

通過X-RAY檢測，可以明顯辨別出Ni片與FPC焊盤之間存在虛焊不良。而且未虛焊的點位均存在較大面積的焊接空洞。

失效焊點的剝離表面分析

針對異常連接點，將鎳片剝離后，對其表面特征進行分析。分析發現：

Ni片焊接剝離面Sn為自然聚合狀態，表面光滑，無拉扯或鋸齒狀態。

FPC pad面偏灰色，表面光滑，有明顯坑狀氣泡空洞痕跡，無拉扯或鋸齒狀態。

通過SEM分析顯示，pad表面平整，結晶規則。整體呈現灰白色，結晶顆粒約2μm左右。

EDS分析結果顯示，pad面主要以Sn、Cu金屬成分構成。C、Cl主要來自于剝離面的附著物，據此判斷為助焊劑殘留物。同時，Sn、Cu元素產生了相互熔合滲透。

剝離面外觀確認

Ni片焊接剝離面：Sn呈自然聚合狀態，表面光滑，無拉扯或鋸齒狀態。

FPC pad焊接剝離面：斷面偏灰色，且表面光滑，有明顯坑狀氣泡空洞痕跡，無拉扯或鋸齒狀態。

剝離面SEM分析

Ni片焊接剝離面SEM圖示

FPC pad焊接剝離面SEM圖示

剝離面EDS分析

Ni片焊接剝離面的成分分析

FPC pad面焊接剝離面的成分分析

失效焊點的切片斷面分析

針對失效焊點，對其進行切片斷面分析。

分析發現：

斷面金相分析發現：Sn與FPC pad分離，FPC pad銅面彎曲變形。焊錫呈自然的凝聚弧形狀態。從其整體狀態判斷，內部受到了熱應力作用即熱膨脹。

SEM分析發現：焊點斷裂面位于Sn與pad側的IMC層，斷點在IMC層整體貫穿。IMC層整體連續、均勻，厚度2.0μm左右，狀態良好。部分Sn面呈自然凝結弧狀。

EDS分析發現：pad上的IMC層以Cu、Sn構成，重量比約為40:60，為Cu6Sn5結構，是良性IMC。斷裂面的焊錫側為100%Sn成分，進一步說明斷裂面為Sn與pad側的IMC層。

Ni片側、pad側的Sn結晶狀態無明顯差異，說明焊錫過程是同步的。

在斷面上檢出較明顯的助焊劑殘留。

切片斷面分析

切片斷面金相分析

切片斷面SEM分析

切片斷面EDS分析

良好焊點的切片斷面分析

有電阻焊接的焊點，焊接狀態良好，IMC層連續、均勻，厚度1.46μm。Ni片與pad之間無段差。

切片斷面分析

切片斷面金相分析

切片斷面SEM分析

FPC pad與Ni片組裝結構部分FPC pad相對平面有50μm-60μm的段差，即下沉，部分無段差。

工藝流程：Ni片SMT回流焊接→PI膜→SMD元件焊接，即Ni片在PI膜貼附后還要回流一次。

組裝結構

部分FPC pad相對平面有50μm-60μm的段差，本次分析的樣件對比如下：

PI膜熱壓后，Ni片焊接部分被完全封閉，即Ni片與pad焊接部分形成完全密閉空間。

分析結果

不良解析

綜合以上檢測信息，分析如下：

從虛焊點的平面與斷面的分析結果可以判斷——Ni片與FPC pad第一次回流焊接形成了良好的IMC層，焊接成功。焊接失效現象發生在后續工藝之中。

虛焊點的典型特征

FPC pad斷面平滑，Ni片上附著的Sn表面及切面均呈自然冷卻形成的弧狀形貌。

虛焊面在Sn與IMC層之間。

失效焊點空間均呈熱膨脹狀態。

FPC結構及工藝的缺陷

FPC失效焊點的pad下沉約60μm，Ni片與FPC上的PI膜之間形成了應力集中點，如以下對比圖所示——在熱膨脹作用時，第一種狀態容易受到熱應力。

焊接點存在較大面積的空洞（最大75%左右），且有助焊劑殘留。

PI膜工藝使Ni片和FPC的焊接點形成了完全密閉的空間。在第二次回流焊時，會造成焊接揮發的氣體無法排除，從而在內部形成熱脹空間。

由于該產品的工藝特點，焊錫在第二次SMT時會再次經過熔化到冷卻的過程。Sn與Sn之間的親和性遠高于Sn與IMC層之間的親和性。

原因總結

綜合以上分析，判斷造成焊接失效的原因如下：

由于該FPC組裝工藝的限制，在密閉空間內的焊點二次熔化時，焊點內部存在的空洞及助焊劑殘留揮發物再度受熱膨脹。

同時由于FPC本身的造成的段差，即與Ni片接觸的PI膜，熱膨脹對Ni片邊緣產生應力，綜合引起FPC銅面受力變形下陷。

并且由于焊錫的親和作用，Sn與IMC層產生了自然分離，故形成虛焊。

改善方案

FPC 焊盤設計

建議措施

FPC 焊盤改善為無段差結構，Ni片與焊盤直接接觸。

目的

保障錫膏印刷質量；

減少焊接時的熱應力。

FPC生產前烘烤

建議措施

每批次FPC板在上線前烘烤。

目的

除去內部濕氣，避免焊接時的內部濕氣釋放，形成熱應力。

鋼網

建議措施

建議鋼網厚度由0.08mm變更為0.11mm；

現狀鋼網開口的排期通道設計不足：
①排氣通道由0.2mm變更為0.25mm；
②開口圖形建議如下：

目的

①增加錫量；

②增加焊接時的排氣性，減少焊接空洞；
③減小第一次回流焊接時的虛焊隱患；

回流溫度

建議措施

對第一次回流焊接時的溫度做整體評估。

目的

減少焊接空洞。

Ni片焊接后清潔

建議措施

Ni片焊接后，對孔內及邊緣部分殘留的助焊劑進行清潔。

目的

減少助焊劑殘留，從而減少二次焊接時產生揮發性氣體；

PI膜的密封性設計改善

建議措施

建議Ni片孔位置不封PI膜，在二次回流后采用密封電阻的方式，點膠密封。

目的

避免形成密封空間，導致內部熱應力無法釋放。

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審核編輯 黃昊宇