介紹

在芯片做功能ECO時(shí)，DFT部分的邏輯常常被破壞，這是由于正常工作模式下修改設(shè)計(jì)的原因。在功能ECO時(shí)，DFT的控制信號被設(shè)為無效，ECO工具意識不到DFT邏輯被更改，并且形式驗(yàn)證也驗(yàn)證不出來。我們發(fā)現(xiàn)，當(dāng)ECO過的網(wǎng)表送給DFT工具，DFT工具需要運(yùn)行很長時(shí)間來識別網(wǎng)表是否存在問題。

NanDigits GOF提供了一種快速DFT DRC檢查的功能，來檢查DFT邏輯中的問題。DFT中最基本的DRC檢查就是確認(rèn)掃描鏈?zhǔn)欠裢暾褪钦f，GOF可以捕獲和輸出測試進(jìn)行中的測試pattern。另外，在測試模式下，DFT的時(shí)鐘和復(fù)位必須是要受控的，以便來使能合適的測試pattern。

下圖是DFT模式使能后的示意圖，TEST_MODE=1，TEST_CLOCK被送到每個(gè)DFF的時(shí)鐘端。

示例

下面是GOF做DFT DRC檢查的腳本，先讀入lib庫和網(wǎng)表，再設(shè)置使能DFT模式，并創(chuàng)建時(shí)鐘、復(fù)位、si/so掃描鏈對，最后運(yùn)行dft_drc()命令來執(zhí)行DFT DRC的檢查。

# dft_drc.pl
set_log_file("dft_drc.log");#設(shè)計(jì)log
read_library("art.5nm.lib");#讀入lib庫
read_design('-imp', 'dft_top.v'); # 讀入帶有DFT的網(wǎng)表
set_top("DFT_TOP");               # 設(shè)置頂層


set_pin_constant("test_scan_shift",1);# 設(shè)scanshift為1
set_pin_constant("all_test_reg/Q",1);#設(shè)TDRall_test寄存器輸出Q為1
set_pin_constant("test_mode_reg/Q",1);#設(shè)TDRtest_mode寄存器輸出Q為1


create_clock("occ_add_1_inst/U0/Z",10);#創(chuàng)建時(shí)鐘，周期10ns,可能有多個(gè)
create_clock("occ_add_2_inst/U0/Z",10);
create_reset("power_on_reset",0);#創(chuàng)建reset


set_top("DESIGN_TOP");                   # pin_si/pin_so是DFT_TOP的內(nèi)部pin
set_scan_pairs("pin_si[0]","pin_so[0]");#添加掃描鏈對
set_scan_pairs("pin_si[1]", "pin_so[1]");


set_top("DFT_TOP");#回到頂層
my$err=dft_drc;#運(yùn)行DFT DRC檢查
if($err){
  gprint("DFT DRC found $err errors
");
}

gof -run dft_drc.pl

結(jié)語

NanDigits GOF提供了快速DFT DRC的檢查和修復(fù)，來保證功能ECO不會影響到DFT掃描鏈，縮短功能ECO后的DFT修復(fù)和驗(yàn)證的時(shí)間，幫助客戶更快的Tapeout。最新版GOF10.4支持此功能，歡迎試用評估。

審核編輯：劉清