透射電子顯微鏡（TEM）于1932年左右發(fā)明，是一種以波長(zhǎng)極短的電子束作為電子光源，利用電子槍發(fā)出的高速的、聚集的電子束照射至非常薄的樣品，收集透射電子流經(jīng)電磁透鏡多級(jí)放大后成像的高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。

透射電鏡具有分辨率高、可與能譜儀等其他技術(shù)聯(lián)用的優(yōu)點(diǎn)，在物理、化學(xué)、生物學(xué)和材料學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。近年來，隨著半導(dǎo)體行業(yè)飛速發(fā)展，相關(guān)產(chǎn)品關(guān)鍵結(jié)構(gòu)尺寸的進(jìn)一步微納米化，透射電鏡逐漸開始作為半導(dǎo)體失效分析的有力工具。

4nm制程芯片TEM成像圖

為了讓用戶對(duì)透射電鏡相關(guān)內(nèi)容有進(jìn)一步的了解，此次公開課特意邀請(qǐng)英國曼徹斯特大學(xué)材料學(xué)博士、廣電計(jì)量半導(dǎo)體技術(shù)副經(jīng)理劉辰開展主題為《透射電鏡原理介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用》線上公開課。屆時(shí)，報(bào)名用戶不僅能免費(fèi)參與課程，聽課期間還有超強(qiáng)的技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)為大家進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)答疑。

活動(dòng)介紹

【主題】透射電鏡原理介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用

【時(shí)間】時(shí)間3月30日上午9:30-11:00

【講師】劉辰

●英國曼徹斯特大學(xué)材料學(xué)博士

● 廣電計(jì)量MA技術(shù)線負(fù)責(zé)人

● 近十年材料分析和電鏡實(shí)操經(jīng)驗(yàn)

此次公開課不僅作為一場(chǎng)公益課程，更對(duì)于報(bào)名并成功聽課的客戶提供限時(shí)優(yōu)惠檢測(cè)服務(wù)方案。

● 優(yōu)惠期間，可享受優(yōu)先檢測(cè)服務(wù)

● 優(yōu)惠期間，可享受AEC-Q培訓(xùn)課程八折優(yōu)惠

【優(yōu)惠期：2023.3.30-2023.4.30】

常見問題

Q：如何確定已報(bào)名成功？

A：掃碼報(bào)名后界面會(huì)提示“報(bào)名成功”。其次，如您已經(jīng)關(guān)注廣電計(jì)量公眾號(hào)，將會(huì)推送報(bào)名成功信息。

Q：公開課開始前是否有信息提示？

A：只要您關(guān)注公眾號(hào)并成功報(bào)名，在課程前5-10分會(huì)提醒您聽課。

Q：公開課結(jié)束后，課程是否可回放？

A：是的，視頻可限時(shí)回放。