磁性薄膜材料在傳感和存儲(chǔ)元件的技術(shù)發(fā)展中發(fā)揮著重要作用。使用 X 射線散射可以研究磁性薄膜的結(jié)構(gòu)和動(dòng)態(tài)行為,以更詳細(xì)地了解它們的行為。
鐵磁薄膜表現(xiàn)出有趣的物理行為,被認(rèn)為對(duì)未來的傳感和存儲(chǔ)應(yīng)用具有很大的意義。在最近發(fā)表的一份報(bào)告中,法國(guó)、意大利、斯洛文尼亞和英國(guó)的一個(gè)國(guó)際研究小組報(bào)告了他們?yōu)楦玫亓私獗∧よF磁材料以及鐵磁體和非磁性材料的夾層結(jié)構(gòu)的微觀磁特性所做的一些努力。這些材料可以表現(xiàn)出復(fù)雜的行為,例如對(duì)其物理行為很重要的磁性手性結(jié)構(gòu)和斯格明子晶格相的形成。研究人員對(duì)顯示這些復(fù)雜結(jié)構(gòu)的磁域的動(dòng)態(tài)形成特別感興趣。
為了測(cè)量磁性薄膜的磁特性,可以使用磁性圓二色性,其中左右圓形光束根據(jù)材料的磁化強(qiáng)度表現(xiàn)出不同的散射行為。研究人員利用磁二色性測(cè)量意大利的里雅斯特費(fèi)米自由電子激光器 DiProI 光束線上的時(shí)間分辨 X 射線磁散射。測(cè)量采用泵浦探針測(cè)量方案,使用 780nm 的短 100fs 激光脈沖,然后使用 20nm 波長(zhǎng)的 60fs X 射線探測(cè)光束來誘導(dǎo)樣品材料消磁。這種排列對(duì)皮秒時(shí)間尺度上的近紅外脈沖撞擊后的磁重排敏感。
X射線反射的 X 射線衍射圖案通過真空 CCD(Princeton Instruments MTE 2048)成像來記錄,該 CCD 位于樣品附近(距離 12 厘米),以覆蓋衍射輻射的大角度區(qū)域。對(duì)左圓偏振 X 射線和右圓偏振 X 射線的不同衍射圖案進(jìn)行成像可用于從圖像數(shù)據(jù)確定疇壁寬度及其動(dòng)態(tài)行為。
最終,研究團(tuán)隊(duì)使用的技術(shù)成功地在皮秒時(shí)間尺度上檢測(cè)了薄膜鐵磁材料的磁化強(qiáng)度和磁疇特性。
審核編輯 黃宇
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