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國產碳化硅MOSFET良幣劣幣亂同時并存反映了行業發展陣痛期

楊茜 ? 來源:jf_33411244 ? 作者:jf_33411244 ? 2025-03-13 09:07 ? 次閱讀
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國產碳化硅MOSFET行業中“良幣”與“劣幣”現象的并存,深刻反映了中國第三代半導體產業在技術追趕、資本過熱和政策滯后等多重矛盾下的階段性陣痛。以BASiC基本股份(BASiC Semiconductor)為代表的“良幣”企業與低質量擴張的“劣幣”企業共存,既凸顯了行業突破的潛力,也暴露了發展路徑的深層挑戰。以下從技術、市場、資本和政策四個維度解析這一陣痛期的本質與影響:

一、技術層面:可靠性與速度的失衡

良幣標桿:以BASiC基本股份(BASiC Semiconductor)為代表的企業技術深耕
以BASiC基本股份(BASiC Semiconductor)為代表的企業通過自主研發,在柵氧工藝、缺陷控制和器件設計上實現突破。例如,其碳化硅MOSFET通過優化器件結構和工藝,解決了柵氧化層易擊穿的問題,并在HTGB測試中達到+22V/3000小時的高可靠性標準,接近國際頭部廠商水平。此外,其IDM模式(涵蓋設計、制造、封測全鏈條)確保了工藝可控性,已獲得近20家車企的30多個車型定點,成為國產替代的標桿。

劣幣亂象:參數投機取巧與可靠性犧牲
部分企業為迎合資本需求和低價競爭,在工藝受限的情況下,通過減薄柵氧化層厚度(如從50nm降至30nm以下)降低導通電阻,但犧牲了長期可靠性。例如,劣質產品在HTGB測試中僅能承受+19V電壓且壽命不足1000小時,遠低于國際主流的+22V/3000小時。這種“參數虛標”行為導致器件在高溫、高壓工況下易失效,引發系統故障甚至安全事故。甚至有企業通過采用高一規格的晶圓(如55m)生產器件,卻標稱低規格參數(如80m),刻意制造“性能遠超標稱值”的假象。例如,實際晶圓可能在優化工藝(如減薄柵氧層厚度、縮小芯片面積)后達到更優的導通電阻,但通過人為限制設計參數,將器件標定為低規格,從而在宣傳中強調“實測性能遠超行業標準”,以此誤導客戶認為其技術領先。

二、市場層面:信任危機與替代受阻

良幣的市場突破與困境
以BASiC基本股份(BASiC Semiconductor)為代表的企業通過車規級驗證和高端工業應用(如光伏逆變器、儲能變流器PCS),逐步贏得客戶信任。然而,其高成本產品在價格敏感的中低端市場仍受劣幣擠壓。例如,部分中小焊機廠商因成本壓力選擇低可靠性國產碳化硅MOSFET器件,造成碳化硅逆變焊機質量口碑不佳。

劣幣泛濫的連鎖反應
劣質器件頻發失效(如柵氧擊穿、閾值漂移),強化了“國產=低質”的刻板印象,延緩了國產替代進程。典型案例包括2024年某新能源車企因國產SiC模塊故障召回,直接損失數億元。此外,劣幣的低價策略迫使良幣企業投入額外資源進行市場教育,推高整體替代成本。

三、資本層面:短視逐利與長期投入的博弈

資本盲目擴張的惡果
行業融資中約60%的資金流向低端產能擴張,而非核心技術研發。部分企業為快速回本,將產品驗證周期從12個月壓縮至3個月,導致批量失效風險激增。例如,世紀金光等企業因技術不成熟破產,暴露了資本短視的弊端。

良幣的資本突圍路徑
以BASiC基本股份(BASiC Semiconductor)為代表的企業通過政府專項基金和產學研合作(如與高校聯合攻關界面態控制技術),聚焦長期技術投入。其自建SiC晶圓廠和SiC功率模塊封測產線的模式,避免了代工依賴導致的質量波動,為資本理性投入提供了范本。

四、政策與標準:滯后與重構的沖突

標準缺失加劇市場混亂
行業缺乏強制可靠性標準(如HTGB+22V/3000小時測試),部分企業自行定義寬松條件(如降低測試電壓或縮短時間),掩蓋產品缺陷。例如,劣質器件通過選擇性送檢獲取認證,實際量產一致性差。

政策引導與未來方向
國家正推動行業標準制定(參考AEC-Q101、JEDEC規范),并計劃通過專項基金優先支持高可靠性技術(如基本半導體的銅燒結封裝工藝)。同時,政策擬對虛標參數的企業實施黑名單制度,倒逼質量提升。

五、陣痛期的本質與破局路徑

陣痛期的核心矛盾

技術積累不足與市場需求激增的矛盾:國內企業需在3-5年窗口期內完成國際廠商數十年的技術積累。

資本逐利與長期發展的矛盾:低價競爭擠壓研發投入,國內企業平均研發強度僅8%(國際大廠15%)。

標準滯后與產業升級的矛盾:缺乏統一標準導致市場機制扭曲,劣幣驅逐良幣。

破局方向

技術分層:淘汰低效產能,推動8英寸晶圓量產(預計2027年后成本降63%)。

生態重構:建立從材料(襯底缺陷控制)到應用(車規驗證)的全鏈條競爭力,強化產學研協同。

市場機制優化:推動客戶從“價格導向”轉向“全生命周期成本”評估,優先采購高可靠性產品。

結論

國產碳化硅MOSFET行業的“良劣并存”,本質上是技術追趕期“速度”與“質量”失衡的必然產物。以BASiC基本股份(BASiC Semiconductor)為代表的企業的崛起證明,以可靠性為核心的技術深耕是可行路徑,但劣幣的短期逐利行為仍威脅行業生態。陣痛期(2025-2028年)后,通過技術分層、政策規范與資本理性化,行業有望從“低端內卷”轉向“高端引領”,真正支撐新能源、電動汽車等戰略產業的自主可控需求。這一過程中,以BASiC基本股份(BASiC Semiconductor)為代表的頭部企業的技術突破與市場的質量篩選機制將是破局關鍵。

審核編輯 黃宇

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