晶振，又名晶體振蕩器或者石英晶體振蕩器，主要用作電子產(chǎn)品內(nèi)部作為時間、頻率基準使用，可以為電子產(chǎn)品提供一個計時的標準間隔以及相對于LC振蕩器頻率更為穩(wěn)定的電子元器件。
SYN5305型晶振測試儀在通信設(shè)備、汽車電子設(shè)備、醫(yī)療電子、安防電子、工業(yè)自動化設(shè)備中應(yīng)用廣泛。

一、晶振的作用原理
晶振的壓電效應(yīng)是指某些電介質(zhì)在沿一定方向上受到外力的作用而變形時，其內(nèi)部會產(chǎn)生極化現(xiàn)象，同時在它的兩個相對表面上出現(xiàn)正負相反的電荷。當在晶體表面上施加機械壓力時，與機械壓力成比例的電壓出現(xiàn)在晶體上。該電壓會導(dǎo)致晶體失真，失真的量將與施加的電壓成比例，并且還與施加在晶體上的交流電壓成正比，從而導(dǎo)致晶體以其固有頻率振動。

SYN5305型晶振測試儀

二、無源晶振和有源晶振的區(qū)別
SYN5305型晶振測試儀可同時測量有源晶振，無源晶振，直插晶振等。

有源晶振是指不依靠外部電路,通過自身產(chǎn)生震蕩。無源晶振就是一個晶體振蕩器，無法通過自身產(chǎn)生震蕩。有源晶振與無源晶振相比，有源晶振信號電平幾乎是不變的，價格方面也會更高。

三、晶振頻率測試儀的特點
采用7寸大觸摸屏設(shè)計，便于用戶實際操作，提高工作效率。頻率測量分辨率最高可達12位/s，被測頻率范圍高達60GHz，頻率測量功能可與一流頻率計媲美。負載電容在5P～20P范圍內(nèi)任意可調(diào)，支持ppm/ppb/瞬時日差/瞬時月差/瞬時年差/上下限測量。

四、晶振測試儀夾具使用操作
該設(shè)備在測試貼片晶振中，輸出SMA口即可測得晶振輸出信號。待測晶振頻率為＜1MHz需要短接跳線帽，待測晶振頻率為1MHz～30MHz需要斷開跳線帽。直插晶振的匹配電容，可調(diào)范圍 5pF～20pF。如無信號輸出，可根據(jù)匹配電容適當增大減小。也可根據(jù)封裝大小將匹配電容放置0603、0805調(diào)試卡槽中，使其接觸良好。

五、石英晶振測試儀使用注意事項
SYN5305型晶振測試儀系統(tǒng)前面板包括語音出輸出、USB存儲、電源開關(guān)、7寸觸摸液晶屏、通道1，通道2，通道3及可調(diào)旋鈕。三個通道為測試輸入接口，可輸入頻率和脈沖信號。測試使用時給相應(yīng)通道輸入頻率信號，開始進行測試。系統(tǒng)會自動顯示相應(yīng)的統(tǒng)計數(shù)據(jù)，需要注意的是，標稱值是根據(jù)輸入信號自動算出來了，如果標稱值和實際輸入頻的中心頻率不符，可以通過點擊標稱值欄手動修改。

文章版權(quán)歸西安同步所有，尊重原創(chuàng)，嚴禁洗稿，未經(jīng)授權(quán)，不得轉(zhuǎn)載，版權(quán)所有，侵權(quán)必究！

審核編輯 黃宇