TPS6267x 器件是經(jīng)過優(yōu)化的高頻同步降壓直流/直流轉(zhuǎn)換器 適用于小型電池供電應(yīng)用。TPS6267x 專為低功耗應(yīng)用而設(shè)計,支持 負載電流高達 650mA,并允許使用低成本片式電感器和電容器。
該器件具有 2.3V 至 4.8V 的寬輸入電壓范圍,支持供電應(yīng)用 由具有擴展電壓范圍的鋰離子電池提供。不同的固定電壓輸出版本是 提供 1.05V 至 2.1V 電壓范圍。TPS6267x 在 6MHz 的穩(wěn)壓開關(guān)頻率下運行,并且 在輕負載電流下進入省電模式,以保持高效率。 整個負載電流范圍。
*附件:tps626765.pdf
PFM 模式通過將靜態(tài)電流降低至 17μA (典型值) 來延長電池壽命 在輕負載運行期間。對于噪聲敏感型應(yīng)用,該器件具有 PWM 擴頻功能 功能提供低噪聲的穩(wěn)壓輸出,以及低輸入噪聲。這些 特性,結(jié)合高 PSRR 和 AC 負載調(diào)節(jié)性能,使該器件適用于 更換線性穩(wěn)壓器以獲得更好的功率轉(zhuǎn)換效率。
特性
- 6MHz 工作頻率時效率為 92%
- 17μA 靜態(tài)電流
- 寬 V
在范圍從 2.3V 到 4.8V - 6MHz 穩(wěn)頻作
- 擴頻、PWM 頻率抖動
- 同類最佳負載和線路瞬變
- ±2% 總直流電壓精度
- 低紋波輕負載 PFM 模式
- ≥35分貝 V
在PSRR (1kHz 至 10kHz) - 簡單的 Logic Enable 輸入
- 支持外部時鐘存在檢測使能輸入
- 需要三個表面貼裝外部元件(一個 0603 MLCC 電感器,兩個 0402 陶瓷電容器)
- 完整的 0.33mm 以下元件輪廓解決方案
- 總解決方案尺寸 <10 mm^2^
- 采用 6 引腳 NanoFree? (CSP) 超薄封裝,最大高度為 0.4 mm
參數(shù)
方框圖
1. 產(chǎn)品概述
TPS626765是一款高效率、同步降壓DC-DC轉(zhuǎn)換器,專為小型電池供電的應(yīng)用設(shè)計。它支持高達650mA的負載電流,并提供了從2.3V到4.8V的寬輸入電壓范圍。該轉(zhuǎn)換器采用6MHz的固定開關(guān)頻率,并具有低紋波輕載PFM(脈沖頻率調(diào)制)模式,以提高電池壽命。
2. 主要特性
- ?高效率?:在6MHz操作下可達92%。
- ?低靜態(tài)電流?:典型值為17μA。
- ?寬輸入電壓范圍?:2.3V至4.8V。
- ?固定6MHz開關(guān)頻率?。
- ?輕載PFM模式?:降低輕載時的功率損耗。
- ?高PSRR?:≥35dB(1kHz至10kHz)。
- ?小型封裝?:6引腳NanoFree?(CSP)封裝,最大高度0.4mm。
- ?外部組件少?:僅需一個0603MLCC電感和兩個0402陶瓷電容。
3. 應(yīng)用領(lǐng)域
4. 功能描述
- ?自動PWM/PFM模式切換?:根據(jù)負載電流自動在PWM和PFM模式之間切換,以維持高效率。
- ?軟啟動?:限制啟動時的浪涌電流。
- ?使能輸入?:簡單的邏輯使能輸入,方便控制。
- ?外部時鐘檢測使能?:支持外部時鐘信號檢測以啟用設(shè)備。
- ?輸出放電功能?:在關(guān)閉時主動放電輸出電容。
5. 電氣特性
- ?輸出電壓范圍?:固定版本提供多種輸出電壓選項,如1.05V、1.2V等。
- ?負載調(diào)節(jié)?:在PWM模式下,負載調(diào)節(jié)性能優(yōu)異。
- ?線路調(diào)節(jié)?:具有良好的線路調(diào)節(jié)能力。
- ?熱關(guān)斷?:防止結(jié)溫過高損壞設(shè)備。
6. 典型應(yīng)用電路
文件提供了TPS626765的典型應(yīng)用電路圖,包括輸入電容、輸出電容、電感和使能引腳的連接方式。同時,還展示了如何通過外部時鐘信號控制設(shè)備的啟用和關(guān)閉。
7. 設(shè)計指南
- ?電感選擇?:推薦使用0.3μH至1.8μH的電感值,以獲得最佳性能。
- ?輸出電容選擇?:建議使用X7R或X5R介質(zhì)的陶瓷電容,以最小化輸出電壓紋波。
- ?布局建議?:提供了PCB布局指南,以確保最佳電氣性能和熱性能。
8. 封裝與訂購信息
TPS626765采用6引腳NanoFree?(CSP)封裝,最大高度為0.4mm。文件還包含了封裝尺寸、引腳配置和訂購信息。
9. 安全與警告
文件提醒用戶注意靜電放電(ESD)保護,并提供了關(guān)于如何安全處理和存儲IC的建議。同時,強調(diào)了在使用該器件時需要考慮的安全和可靠性問題。
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