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基于AD760的D/A轉換電路和LF411運放電路的設計

電子設計 ? 來源:郭婷 ? 作者:電子設計 ? 2019-05-30 08:29 ? 次閱讀
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隨著技術的發展,在工業生產過程監控系統中,對測試系統的精度要求越來越高。對于要求具有高精度直流電壓輸出的測試系統,D/A芯片及其外圍電路的選擇值得精心考慮。文中給出了一種基于AD760設計的高精度直流電壓輸出電路,并已成功應用于工控測試系統中。

1 系統設計

圖1所示為設計的高精度直流電壓輸出電路的框圖,它由總線端、數字隔離、D/A轉換、電壓驅動電路組成,D/A采用18位芯片AD760,電壓驅動電路由運放LF411的跟隨電路來實現。

基于AD760的D/A轉換電路和LF411運放電路的設計

圖1 系統框圖

2 硬件電路設計

2.1 數字隔離

為了防止總線端的數字信號模擬輸出電壓產生影響,需要將兩邊的數字信號進行隔離,本板采用了ADI公司的ADUM1400和ADUM1201高速磁隔進行隔離。

2.2 D/A轉換

D/A轉換采用ADI公司的AD760芯片,如圖2所示是D/A轉換電路圖。AD760是一款16/18位可選、可進行自校準的DAC,內置片內基準電壓源、雙緩沖鎖存器和輸出放大器。它采用ADI公司BiMOSII工藝制造,可以在同一芯片上實現高精度雙極性線性電路與低功耗CMOS邏輯功能。只需發送脈沖使CAL引腳變為低電平,便會啟動自校準功能。CALOK引腳會顯示何時順利完成校準。校準期間,可以利用輸出多路復用器(MUXOUT)將輸出發送至輸出范圍底部。數據可以采用標準二進制、串行數據或雙8位字節格式載入AD760.在串行模式下,可以使用16位或18位數據;串行模式輸入格式通過引腳選擇,可以是MSB優先或LSB優先。通過具有雙重功能的三個數字輸入引腳(引腳12、13和14)來實現。在字節模式下,用戶同樣可以定義優先加載高字節還是低字節數據。雙緩沖鎖存結構不僅可以消除數據偏斜誤差,還能夠在多DAC系統中同時更新各DAC.當CLR選通時,可以利用異步CLR功能將輸出清零至負滿量程或中量程,具體取決于引腳17的狀態。

基于AD760的D/A轉換電路和LF411運放電路的設計

圖2 D/A轉換電路

AD760采用28引腳、600 mil cerdip封裝,AQ級的額定溫度范圍為-40~+85℃。

由于AD760芯片內部基準源的溫漂為25ppm/℃,對于溫度變化比較大的系統,此參數對輸出電壓精度影響較大,本板采用外部基準源AD587芯片,其溫漂為5ppm/℃。電路圖如圖3所示。

基于AD760的D/A轉換電路和LF411運放電路的設計

圖3 D/A外部基準電路

2.2 電壓驅動

AD760的輸出驅動能力只有5mA,帶載能力有限,因此必須加運放跟隨電路減小輸出電阻,如圖4所示。

基于AD760的D/A轉換電路和LF411運放電路的設計

圖4 電壓驅動電路

3 印制板設計

AD760的電源應使用10μF和0.1μF電容進行旁路。這些電容應盡可能靠近該器件,10μF電容為鉭電解電容,0.1μF電容為陶瓷電容。基準芯片AD587應盡量接近AD760,加粗其輸出與AD760的REF引腳之間的連線,并在此連線上增加旁路電容,以減小AD760的輸出噪聲對D/A輸出精度的影響。

4 測試結果

本電路輸出±10V的雙極性電壓,通過設置固定的5個碼值:3FFFF,2FFFF,1FFFF,0FFFF,0,用Agilent34401高精度6位半萬用表測試,上電后經過8個小時測試,其分辨率能達到17位,精度能達到16.7位。

5 結束語

基于AD760高精度直流電壓輸出電路設計,可提供分辨率為17位、精度為16.7位的高精度電壓,適用于工控系統要求高精度測量的領域。

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