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• 發(fā)布了文章 2025-03-28 11:16

  手動整理GB 44240電能存儲系統(tǒng)用鋰蓄電池和電池組安全測試設備

  

  ?GB 44240-2024是國內(nèi)針對電能存儲系統(tǒng)用鋰蓄電池和電池組的強制性國家標準，旨在規(guī)范電能存儲系統(tǒng)中鋰電池的安全要求。?該標準由工業(yè)和信息化部組織制定，歷時三年，將于2025年8月1日正式實施。GB 44240作為強制性國標，在多項測試條款上對標IEC 63056、IEC 62619和GB 31241等標準，更加聚焦于產(chǎn)品的安全特性，并在部分安全測試

  儲能電池 測試標準 電池測試要求 試驗箱 試驗設備

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• 發(fā)布了文章 2025-03-21 16:58

  電力電子半導體芯片測試設備——高低溫交變濕熱試驗箱

  

  高低溫交變濕熱試驗箱主要用于模擬高溫、低溫、濕度交變及恒定濕熱環(huán)境，評估產(chǎn)品在不同溫濕度條件下的耐久性、穩(wěn)定性及適應性。該設備廣泛應用于半導體制造、功率電子、IC封裝測試、汽車電子、新能源及航空航天等領域。

  半導體測試 恒定濕熱試驗 濕熱試驗箱 環(huán)境測試 芯片測試

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2025-03-14 15:49

  新能源汽車變速箱臺架環(huán)境箱

  

  產(chǎn)品型號：BTHK 溫度范圍：-60℃～150℃ 溫度偏差：≤±2.0℃ 濕度范圍：10%~98%RH

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2025-03-14 15:44

  COB BI測試老化試驗箱

  

  產(chǎn)品型號：BTG2-400AT 型號：BTG2-400AT 內(nèi)箱尺寸：W800*D1000*H500 外箱尺寸：W1800*D1510*H1665

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2025-03-14 15:20

  電池短路試驗機

  

  產(chǎn)品型號：BE-8102-2W 型號：BE-8102-2W 測試通道數(shù)量：2通道（每個通道可獨立控制短路） 短路電流：1500A（可定制）

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• 發(fā)布了文章 2025-03-08 14:59

  半導體器件可靠性測試中常見的測試方法有哪些？

  

  半導體器件可靠性測試方法多樣，需根據(jù)應用場景(如消費級、工業(yè)級、車規(guī)級)和器件類型(如IC、分立器件、MEMS)選擇合適的測試組合。測試標準(如JEDEC、AEC-Q、MIL-STD)為測試提供了詳細的指導，確保器件在極端條件下的可靠性和壽命。

  半導體器件 可靠性測試 濕熱試驗箱 試驗箱 試驗設備

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• 發(fā)布了文章 2025-03-08 14:40

  從零到一：集成電路封裝測試實驗室建設的關鍵要素

  

  集成電路封裝測試實驗室的建設是一項涉及多學科、多環(huán)節(jié)的系統(tǒng)工程。從研發(fā)型實驗室的精準溫控需求到量產(chǎn)型實驗室的高效動線設計，從設備選型到合規(guī)認證，每個環(huán)節(jié)都直接影響實驗室的可靠性、安全性與成本效益。本文將結合行業(yè)規(guī)范與實戰(zhàn)經(jīng)驗，解析實驗室建設的一些核心要素，為半導體企業(yè)提供一些流程解決方案。

  產(chǎn)品測試 模擬實驗室 鹽霧耐久循環(huán)試驗 試驗箱 試驗設備

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• 發(fā)布了文章 2025-03-08 14:31

  從單設備到系統(tǒng)集成：貝爾一站式芯片封裝測試實驗室建設方案

  

  在半導體芯片從研發(fā)到量產(chǎn)的鏈條中，傳統(tǒng)單設備分散測試模式面臨效率低、數(shù)據(jù)孤島、成本高昂等痛點。例如，某IDM企業(yè)需獨立采購冷熱沖擊箱、振動臺等設備，自行搭建數(shù)據(jù)平臺，導致測試周期延長30%以上。貝爾一站式芯片封裝測試實驗室建設方案 通過整合設備集群、智能控制與標準化流程，為客戶提供覆蓋芯片全生命周期的測試生態(tài)，助力企業(yè)實現(xiàn)從研發(fā)驗證到批量生產(chǎn)的無縫銜接。

  產(chǎn)品測試 恒定濕熱試驗 試驗箱 試驗設備

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• 發(fā)布了文章 2025-03-08 14:21

  低氣壓試驗箱：揭秘集成電路在高原與航空環(huán)境下的失效機制

  

  廣東貝爾低氣壓試驗箱憑借多物理場耦合控制、防爆安全設計 等核心技術，已助力多家企業(yè)攻克高海拔與太空環(huán)境下的芯片失效難題，累計完成超10萬小時嚴苛測試。無論是消費電子還是深空探測領域，我們致力于提供 從材料篩選到系統(tǒng)集成的全流程低氣壓測試方案。

  試驗箱 試驗設備

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• 發(fā)布了文章 2025-03-08 14:05

  快速溫變試驗箱：應對5G芯片高頻熱沖擊測試的解決方案

  

  隨著5G通信、人工智能和自動駕駛技術的爆發(fā)式發(fā)展，芯片瞬時功耗從傳統(tǒng)制程的10W激增至300W以上(如數(shù)據(jù)中心GPU)，導致局部溫度在毫秒級時間內(nèi)波動超過100℃。例如，5G射頻芯片(RF IC)在毫米波頻段工作時，功率密度可達20W/mm2，而碳化硅(SiC)功率模塊在電動汽車中的瞬態(tài)熱阻直接決定整車能效。快速溫變試驗箱通過模擬高頻、劇烈的溫度沖擊，成為驗

  芯片測試 試驗箱 試驗設備

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