失效分析是指研究產(chǎn)品潛在的或顯在的失效機(jī)理，失效概率及失效的影響等，為確定產(chǎn)品的改進(jìn)措施進(jìn)行系統(tǒng)的調(diào)查研究工作，是可靠性設(shè)計(jì)的重要組成部分。失效
2009-07-03 14:33:23
3510 失效分析在生產(chǎn)建設(shè)中極其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析結(jié)論要正確無誤,改進(jìn)措施要切實(shí)可行。 1 失效分析思路的內(nèi)涵 失效分析 思路是指導(dǎo)失效分析全過程的思維路線,是在
2012-04-25 11:13:0811833 
隨著電子產(chǎn)品的快速發(fā)展，電子設(shè)備更是朝著輕.薄.小的方向發(fā)展，使得印制電路板CAF問題成為影響產(chǎn)品可靠性的重要因素.通過介紹CAF失效原理，及CAF失效分析方法，為加工商提供CAF效應(yīng)分析和改善的依據(jù)。
2013-09-30 14:39:0432595 
焊點(diǎn)的可靠性實(shí)驗(yàn)工作，包括可靠性實(shí)驗(yàn)及分析，其目的一方面是評(píng)價(jià)、鑒定集成電路器件的可靠性水平，為整機(jī)可靠性設(shè)計(jì)提供參數(shù)；另一方面，就是要提高焊點(diǎn)的可靠性。這就要求對(duì)失效產(chǎn)品作必要的分析，找出失效模式
2022-08-10 10:57:132112 失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051332 
和電子輔料等可靠性應(yīng)用場景方面具有專業(yè)的檢測、分析和試驗(yàn)?zāi)芰Γ蔀楦餮芯吭核⒏咝！⑵髽I(yè)提供產(chǎn)品的可靠性檢測、失效分析、老化測試等一體化服務(wù)。本中心目前擁有各類可靠性檢測分析儀器，其中包括
2018-06-04 16:13:50
當(dāng)組件上板后進(jìn)行一系列的可靠性驗(yàn)證，可靠性驗(yàn)證過程中產(chǎn)品失效時(shí)，透過板階整合失效分析能快速將失效接口找出，宜特協(xié)助客戶厘清真因后能快速改版重新驗(yàn)證來達(dá)到產(chǎn)品通過驗(yàn)證并如期上市。 透過板階整合失效分析
2018-08-28 16:32:38
`失效分析與檢測技術(shù) 隨著人們對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也越來越凸顯其重要的地位，通過對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行失效分析，我們可以找出失效機(jī)理進(jìn)而策劃提高產(chǎn)品成品率和可靠性的方案。 而采取
2017-12-01 09:17:03
`北京汐源科技有限公司隨著電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體產(chǎn)品不斷的更新?lián)Q代，在國家對(duì)高科技產(chǎn)業(yè)的大力支持下，汐源科技同時(shí)也為電子、半導(dǎo)體行業(yè)提供良好的保障。汐源科技是一家以電子產(chǎn)品失效分析技術(shù)服務(wù)以及電子材料銷售
2016-04-24 19:58:56
的在于找出引起產(chǎn)品失效的直接原因。 (2)廣義的失效分析 不僅要找出引起產(chǎn)品失效的直接原因,而且要找出技術(shù)管理方面的薄弱環(huán)節(jié)。 (3)新品研制階段的失效分析 對(duì)失效的研制品進(jìn)行失效分析。 (4
2011-11-29 16:46:42
金融風(fēng)暴的影響下，我相信貴這為貴公司的產(chǎn)品打造品牌和知名度以及拓展市場業(yè)務(wù)的確是一次千年難逢的好時(shí)機(jī)？ 在科技日益更新的當(dāng)今社會(huì)，產(chǎn)品的失效分析和可靠性日漸被關(guān)注，產(chǎn)品出現(xiàn)可靠性與質(zhì)量問題后要進(jìn)行專業(yè)的失效
2009-03-30 15:41:59
明確其失效模式，失效模式是指失效的外在直觀失效表現(xiàn)形式和過程規(guī)律，通常指測試觀察到的失效現(xiàn)象、失效形式，如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等。要明確失效模式，首先要細(xì)心收集失效現(xiàn)場數(shù)據(jù)。一般情況下失效
2020-08-07 15:34:07
智能產(chǎn)品失效的現(xiàn)象，找出失效原因的失效分析檢測服務(wù)，主要包括點(diǎn)針工作站（Probe Station）、反應(yīng)離子刻蝕（RIE）、微漏電偵測系統(tǒng)（EMMI）、X-Ray檢測，缺陷切割觀察系統(tǒng)（FIB系統(tǒng)）等檢測試驗(yàn)。實(shí)現(xiàn)對(duì)智能產(chǎn)品質(zhì)量的評(píng)估及分析，為智能裝備產(chǎn)品的芯片、嵌入式軟件以及應(yīng)用提供質(zhì)量保證。
2020-03-10 10:42:44
分析，EMC兼容設(shè)計(jì)等，來保證設(shè)計(jì)的產(chǎn)品的功能可靠性。在這一階段，F(xiàn)MEA（失效模式影響分析）也是必不可少的步驟。 4. 在設(shè)計(jì)階段還要考慮產(chǎn)品的可加工性，如生產(chǎn)線的ESD、MSD控制水平是多少，如果
2009-12-01 16:31:42
`v失效：產(chǎn)品失去規(guī)定的功能。v失效分析：為確定和分析失效器件的失效模式，失效機(jī)理，失效原因和失效性質(zhì)而對(duì)產(chǎn)品所做的分析和檢查。v失效模式：失效的表現(xiàn)形式。v失效機(jī)理：導(dǎo)致器件失效的物理，化學(xué)變化
2011-11-29 17:13:46
LED芯片作為LED光源最核心的部件，其質(zhì)量決定著產(chǎn)品的性能及可靠性。芯片制造工藝多達(dá)數(shù)十道甚至上百道，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，尺寸微小（微米級(jí)），任何一道工藝或結(jié)構(gòu)異常都會(huì)導(dǎo)致芯片失效。同時(shí)芯片較為脆弱，任何
2020-10-22 09:40:09
LED芯片作為LED光源最核心的部件，其質(zhì)量決定著產(chǎn)品的性能及可靠性。芯片制造工藝多達(dá)數(shù)十道甚至上百道，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，尺寸微小（微米級(jí)），任何一道工藝或結(jié)構(gòu)異常都會(huì)導(dǎo)致芯片失效。同時(shí)芯片較為脆弱，任何
2020-10-22 15:06:06
MLCC樣品失效分析方法匯總MLCC失效原因在產(chǎn)品正常使用情況下，失效的根本原因是MLCC 外部或內(nèi)部存在如開裂、孔洞、分層等各種微觀缺陷。這些缺陷直接影響到MLCC產(chǎn)品的電性能、可靠性，給產(chǎn)品
2020-03-19 14:00:37
及PCBA的失效現(xiàn)象進(jìn)行失效分析，通過一系列分析驗(yàn)證，找出失效原因，挖掘失效機(jī)理，對(duì)提高產(chǎn)品質(zhì)量，改進(jìn)生產(chǎn)工藝，仲裁失效事故有重要意義。2、服務(wù)對(duì)象印制電路板及組件（PCB&PCBA）生產(chǎn)商：確認(rèn)
2020-02-25 16:04:42
程中出現(xiàn)了大量的失效問題。對(duì)于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。1．外觀檢查外觀檢查就是目測
2018-11-28 11:34:31
在生產(chǎn)和應(yīng)用過程中出現(xiàn)了大量的失效問題。對(duì)于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。1.外觀檢查
2020-04-03 15:03:39
程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對(duì)于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，為此，作為PCB打樣行業(yè)的資深企業(yè)，深圳捷多邦科技有限公司
2018-09-12 15:26:29
/透射電鏡，EDS能譜等分析手段對(duì)可靠性試驗(yàn)后不良失效線路板樣品進(jìn)行分析。PCB常見不良失效現(xiàn)象：鍍層開路、鍍層裂紋、鍍層空洞、柱狀結(jié)晶、孔壁分離等失效分析，金鑒實(shí)驗(yàn)室面向PCB板廠，藥水廠商等客戶，可提供
2021-08-05 11:52:41
撓曲電效應(yīng)引起的正負(fù)幀電壓分布不均勻?qū)е铝藲堄嚯妷汉蛨D像閃爍。為了克服撓曲電效應(yīng)下的圖像質(zhì)量問題，可以通過指定特定的展曲和彎曲系數(shù)來進(jìn)行面板設(shè)計(jì)和缺陷分析 撓曲電系數(shù)((
2021-12-28 13:56:35
失效模式和機(jī)理.2.可靠性試驗(yàn)及封裝認(rèn)證:產(chǎn)品可靠性浴盆曲線, 篩選試驗(yàn)，可靠性試驗(yàn)，可靠性認(rèn)證, 常見可靠性試驗(yàn)、目的、誘導(dǎo)的典型失效模式及機(jī)理等, 典型集成電路塑料封裝器件的封裝認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)簡介, 器件
2009-02-19 09:54:39
的失效分析團(tuán)隊(duì)是一個(gè)封測廠能否快速處理工程異常，保證產(chǎn)品可靠性，處理客戶投訴，增加單位產(chǎn)出，并進(jìn)一步提高良率的關(guān)鍵。下圖給出了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的封裝級(jí)別失效分析實(shí)驗(yàn)室應(yīng)該具有的分析設(shè)備以及分析人員的比例，僅供參考
2016-07-18 22:29:06
“電子產(chǎn)品失效分析與可靠性案例”技術(shù)研討會(huì) 在IPFA2009（集成電路物理與失效分析國際會(huì)議，簡稱IPFA）即將在蘇州舉行之際，IPFA2009蘇州組委會(huì)特
2008-11-05 11:31:32
“電子產(chǎn)品失效分析與可靠性案例”技術(shù)研討會(huì) 在IPFA2009（集成電路物理與失效分析國際會(huì)議，簡稱IPFA）即將在蘇州舉行之際，IPFA2009蘇州組委會(huì)特
2008-11-05 11:41:54
“電子產(chǎn)品失效分析與可靠性案例”技術(shù)研討會(huì)邀請(qǐng)函 在IPFA2009（集成電路物理與失效分析國際會(huì)議，簡稱IPFA）即將在蘇州舉行之際，IPFA2009蘇州
2008-10-31 10:48:05
、發(fā)光二極管、三極管、晶閘管、電阻、電容、電感、繼電器、連接器、光耦、晶振等各種有源/無源器件的失效分析服務(wù)。 失效分析價(jià)值： 1、為元器件設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)和使用提供依據(jù)，提高產(chǎn)品成品率及使用可靠性，提升企業(yè)核心
2017-06-01 10:42:29
經(jīng)長期使用后進(jìn)入失效期。機(jī)械產(chǎn)品中的磨合、電子元器件的老化篩選等就是根據(jù)這種失效規(guī)律而制定的保證可靠性的措施。失效按其工程含義分為暫失效和永久失效、突然失效和漸變失效，按經(jīng)濟(jì)觀點(diǎn)分為正常損耗失效、本質(zhì)
2011-11-29 16:39:42
失效分析基本概念定義：對(duì)失效電子元器件進(jìn)行診斷過程。1、進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理，提出糾正措施，防止這種失效
2016-12-09 16:07:04
元器件進(jìn)行診斷過程。1、進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理，提出糾正措施，防止這種失效模式和失效機(jī)理的重復(fù)出現(xiàn)。3、失效
2016-10-26 16:26:27
與檢測技術(shù)服務(wù)支持平臺(tái)！ 我們數(shù)十名專家組成的業(yè)務(wù)團(tuán)隊(duì)，使我們能提供全面的電子失效分析與可靠性技術(shù)解決方案。通過對(duì)集成電路、電子元器件、PCBA線路板、IT類、通訊類、家電類中小型電子產(chǎn)品進(jìn)行失效分析
2009-03-30 15:38:19
為了FPGA保證設(shè)計(jì)可靠性, 需要重點(diǎn)關(guān)注哪些方面？
2019-08-20 05:55:13
的各個(gè)部門，其可靠性也越來越引起人們的關(guān)心和重視。本文針對(duì)射頻同軸連接器失效模式進(jìn)行了分析，并 就如何提高其可靠性進(jìn)行了討論。
2019-09-24 08:06:42
鍵盤敲擊感，壽命，可靠性，使用舒適度差異極大； 而這些差異實(shí)際上表現(xiàn)為產(chǎn)品已經(jīng)失效，品質(zhì)不過關(guān)的按鍵常見的失效模式表現(xiàn)： 1、重壓：需要使勁按壓，按鍵才有反應(yīng) 2、輕觸：輕輕一碰就有反應(yīng)，太靈敏 3
2019-10-30 19:28:56
可靠性相關(guān)理論對(duì)現(xiàn)場返還數(shù)據(jù)進(jìn)行分解與建模分析，獲得一個(gè)融合了產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力、使用環(huán)境、工藝水平、制造能力、檢測能力以及質(zhì)量管理水平的產(chǎn)品失效率模型，并建立了一套符合無線通信產(chǎn)品研發(fā)生產(chǎn)過程各項(xiàng)可靠
2019-06-19 08:24:45
提高電力電子器件的應(yīng)用可靠性顯得尤為重要。一、失效分析簡介失效分析的過程一般是指根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的過程。器件失效是指其功能完全或
2019-10-11 09:50:49
保證PCB的質(zhì)量與可靠性，必須從研發(fā)、設(shè)計(jì)、工藝以及質(zhì)量保證技術(shù)等多方面著手才能達(dá)到目的，其中作為質(zhì)量保證技術(shù)中的關(guān)鍵，失效分析也越來越發(fā)揮著它的重要作用，只有通過失效分析才能夠找到問題的根源，從而
2012-07-27 21:05:38
；3. 對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收；4. 暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理；5. 為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。對(duì)于
2015-08-04 17:34:26
“電子產(chǎn)品失效分析與可靠性案例”技術(shù)研討會(huì) 在IPFA2009（集成電路物理與失效分析國際會(huì)議，簡稱IPFA）即將在蘇州舉行之際，IPFA2009蘇州組委會(huì)特
2008-11-05 11:43:40
確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象﹐分辨其失效模式和失效機(jī)理﹐確定其最終的失效原因﹐提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議﹐防止失效的重復(fù)出現(xiàn)﹐提高元器件可靠性。失效分析是產(chǎn)品可靠性工程的一個(gè)重要組成部分。失效分析被
2019-07-16 02:03:44
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 10:10 編輯
電容器的常見失效模式有：――擊穿短路；致命失效――開路；致命失效――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降
2011-12-03 21:29:22
`整體失效分析的基本流程圖。首先要確定失效模式，即怎樣失效，然后進(jìn)行電性分析（EFA，Electrical Failure Analysis）,即通過電性分析完成缺陷位置的粗略定位。EFA包括樣品
2017-12-07 16:28:00
電子產(chǎn)品在潮濕的環(huán)境中工作，可能會(huì)發(fā)生電路板受潮的情況。電路板受潮后，存在哪些潛在的設(shè)計(jì)失效模式，還有它的后果會(huì)是怎么樣？ 分析 電路板受潮后，潛在的設(shè)計(jì)失效模式是電路板發(fā)生氧化，潛在
2021-03-15 11:52:35
模式和失效機(jī)理已固定，因此只有在可靠性設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上，保證生產(chǎn)線上嚴(yán)格采取可靠性技術(shù)措施（如生產(chǎn)工藝的嚴(yán)格控制、生產(chǎn)環(huán)境條件的控制、各工序過程中的質(zhì)量檢測等），才能保證電連接器的固有可靠性。 (1
2021-03-25 16:24:47
目前，隨著現(xiàn)代生活中的人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求不斷提高，芯片的失效分析、可靠性分析也越來越得到關(guān)注和重視，失效分析是通過對(duì)現(xiàn)場使用失效樣品、可靠性試驗(yàn)失效樣品或篩選失效樣品的檢測與解剖分析，得出
2013-06-24 17:04:20
失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)
2020-04-07 10:11:36
`芯片失效分析探針臺(tái)測試簡介：可以便捷的測試芯片或其他產(chǎn)品的微區(qū)電信號(hào)引出功能，支持微米級(jí)的測試點(diǎn)信號(hào)引出或施加，配備硬探針和牛毛針，宜特檢測實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)樣品實(shí)際情況自由搭配使用，外接設(shè)備可自由搭配
2020-10-16 16:05:57
本帖最后由 testest 于 2020-5-17 20:51 編輯
芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC)& MSL試驗(yàn)
2020-05-17 20:50:12
芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL
2020-04-26 17:03:32
PCB線路板銅層截面拋光PCBA無鉛焊點(diǎn)可靠性測試：外觀檢察紅外顯微鏡分析聲學(xué)掃描分析金相切片X-ray透視檢查SEM檢查SEM/EDS計(jì)算機(jī)層析分析染色試驗(yàn)PCB/PCBA的失效模式：常見的PCB
2019-10-30 16:11:47
。 失效分析技術(shù) 光學(xué)顯微鏡 光學(xué)顯微鏡主要用于PCB的外觀檢查，尋找失效的部位和相關(guān)的物證，初步判斷PCB的失效模式。外觀檢查主要檢查PCB的污染、腐蝕、爆板的位置、電路布線以及失效的規(guī)律性、如是批次
2018-09-20 10:59:15
的分析服務(wù)提供第三者公證報(bào)告可協(xié)助解決的故障分析的種類ESD / Latch up / OLT / Pre-condition /Reliability 等測試后的失效分析服務(wù)驗(yàn)退樣品分析服務(wù)或?qū)?b class="flag-6" style="color: red">產(chǎn)品
2018-08-16 10:42:46
在因素而失效。電容在各種應(yīng)力作用下其材料發(fā)生物理和化學(xué)變化，導(dǎo)致電參數(shù)變劣而最后失效，可分為電應(yīng)力（電流、電壓）和環(huán)境應(yīng)力（濕度、溫度、氣壓、振動(dòng)和沖擊等）兩種，下面就電容的失效和可靠性作一簡單分析。一
2019-05-05 10:40:53
求用labview進(jìn)行頻率響應(yīng)分析的編程方法
2017-05-03 15:19:30
失效模式和效果分析 FMEA(Failure Mode and Effect Analysis)
FMEA最早是由美國國家宇航局(NASA)形成的一套分析模式，F(xiàn)MEA是一種實(shí)用的解決問題的方法，可適用于許多工程 .FMEA有三
2009-08-17 08:08:18
38 FMEA失效模式公析表:被分析的項(xiàng)目或操作 潛能失效模態(tài) 潛在的失效效應(yīng) 嚴(yán)重度 失敗的潛能因素/機(jī)制 發(fā)生度 現(xiàn)在的設(shè)計(jì)或制程控制 難檢度 風(fēng)險(xiǎn)數(shù)
2009-08-17 08:09:1730 失效分析中的模式思維方法:對(duì)事故模式和失效模式的歸納總結(jié)，從中引伸出預(yù)防事故或失效的新認(rèn)識(shí)或新概念.關(guān)健詞:失效模式;失效分析;安全性工程
2009-12-18 11:28:1034 采用偽衛(wèi)星技術(shù)增強(qiáng)GPS 定位系統(tǒng)來提高定位性能是偽衛(wèi)星定位應(yīng)用的一個(gè)研究熱點(diǎn)。在對(duì)GPS 偽衛(wèi)星應(yīng)用中出現(xiàn)的多徑效應(yīng)做較為詳細(xì)的特點(diǎn)分析后，開展了偽衛(wèi)星信號(hào)多徑效應(yīng)
2009-12-19 13:55:2412 空間矢量PWM逆變器死區(qū)效應(yīng)分析與補(bǔ)償方法
針對(duì)電壓源型空間矢量脈寬調(diào)制逆變器的死區(qū)效應(yīng)，提出了一種根據(jù)電流矢量判斷電流極性的死區(qū)補(bǔ)償方法，分析了
2010-02-22 16:54:4538 摘要：運(yùn)用故障樹分析方法，對(duì)安全指令接收機(jī)延時(shí)電路失效模式進(jìn)行分析，指出了延時(shí)電路存在的設(shè)計(jì)缺陷，并提出了相應(yīng)的優(yōu)化途徑，同時(shí)對(duì)優(yōu)化后的延時(shí)電路進(jìn)行了可靠性分
2010-04-29 10:07:4114 內(nèi)容提要• FMEA之歷史• FMEA之應(yīng)用• FMEA之定義• FMEA使用時(shí)機(jī)• FMEA分類• FMEA分析流程• 失效模式及效應(yīng)分析窗體格式• 設(shè)計(jì) FMEA
2010-06-13 08:49:3268 高速電路傳輸線效應(yīng)分析與處理
隨著系統(tǒng)設(shè)計(jì)復(fù)雜性和集成度的大規(guī)模提高，電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)師們正在從事100MHZ以上的電路設(shè)計(jì)，總
2009-11-17 13:57:07781 PTC的失效模式分析
●衡量PTC熱敏電阻器可靠性有兩個(gè)主要指標(biāo)：
A.耐電壓能力----超過規(guī)定的電壓可導(dǎo)致PTC熱敏電阻器短路擊穿，施加高電壓可淘汰耐壓低的產(chǎn)
2009-11-28 09:12:453468 電源網(wǎng)格的電壓下降和電遷移效應(yīng)分析
集成電路電源分配系統(tǒng)的用途是提供晶體管執(zhí)行芯片邏輯功能所需的電壓與電流。在0.13微米以下工藝技術(shù)時(shí)
2009-12-26 14:48:251260 半導(dǎo)體器件芯片焊接失效模式分析與解決探討 半導(dǎo)體器件芯片焊接失效模式分析與解決探討 芯片到封裝體的焊接(粘貼)方法很多，可概括為金屬合金焊接法(或稱為低熔點(diǎn)焊接法)和樹脂
2011-11-08 16:55:5060 本文主要分析了射頻電纜組件的電性能參數(shù)及其失效模式, 并對(duì)其設(shè)計(jì)和改進(jìn)進(jìn)行研究, 對(duì)如何提高電纜組件的可靠性也進(jìn)行了較詳細(xì)的探討。
2011-12-29 16:41:3125 判斷失效的模式, 查找失效原因和機(jī)理, 提出預(yù)防再失效的對(duì)策的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng)稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36121 電子產(chǎn)品可靠性分析、評(píng)價(jià)的重點(diǎn)在于確定其高風(fēng)險(xiǎn)環(huán)節(jié)。基于充分考量失效機(jī)理的分析目的，采用了元器件-失效模式-失效機(jī)理-影響因素相關(guān)聯(lián)的分析方法，通過相關(guān)物理模型和一個(gè)
2012-04-20 11:16:16180 型、阻漏型、功能型失效模式和其他失效模式。在此針對(duì)系統(tǒng)中導(dǎo)致電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效，影響整車正常運(yùn)行的元件或部件失效進(jìn)行分析。
2017-03-09 01:43:231760 程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對(duì)于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。 1．外觀檢查 外觀檢查就是目測或利用一些簡單儀
2017-09-21 15:45:264 。如何提高LED照明產(chǎn)品可靠性問題也一直是企業(yè)需要解決的問題。 LED照明產(chǎn)品失效模式一般可分為：芯片失效、封裝失效、電應(yīng)力失效、熱應(yīng)力失效、裝配失效。通過對(duì)這些失效現(xiàn)象的分析和改進(jìn)，可對(duì)我們?cè)O(shè)計(jì)和生產(chǎn)高可靠性的LED照明產(chǎn)品提供幫助。 本文介紹了
2017-10-19 09:29:0022 可靠性分析問題，在分析其失效模式的基礎(chǔ)上，選擇威布爾分布作為其壽命分布模型，利用貝葉斯理論估計(jì)無失效數(shù)據(jù)下各檢測時(shí)刻的失效率，進(jìn)而對(duì)模型參數(shù)進(jìn)行估計(jì)得到摻鉺光纖光源可靠性指標(biāo)，該方法中貝葉斯估計(jì)結(jié)合經(jīng)驗(yàn)信息大
2017-11-13 10:55:0011 本文主要介紹光纖分路器的 GR-1209 可靠度試驗(yàn) 及其失效模式分析。 光纖耦合技術(shù)自 1985 年起 即為許多專家所開始使用 其目地是使輸入光從一根光纖傳輸?shù)搅硗舛饫w 達(dá)到光強(qiáng)度分配的作用
2017-11-14 13:10:324 和基于最小二乘法和遺傳算法的參數(shù)估計(jì)方法，利用系統(tǒng)整體及各部件的可靠度模型進(jìn)行了可靠度分析和壽命預(yù)測。分析結(jié)果表明，考慮失效模式建立可靠性模型可以直觀地揭示失效模式對(duì)產(chǎn)品可靠性的影響趨勢(shì)，有利于產(chǎn)品的維護(hù)和
2018-03-26 16:03:020 安全分析報(bào)告，包括詳細(xì)的失效模式、效應(yīng)、和診斷分析（FMEDA），包括估計(jì)模塊和設(shè)備級(jí)故障率（FIT）和計(jì)算ISO 26262和IEC 61508安全標(biāo)準(zhǔn)
2018-04-17 14:08:4822 LED燈珠是一個(gè)由多個(gè)模塊組成的系統(tǒng)。每個(gè)組成部分的失效都會(huì)引起LED燈珠失效。 從發(fā)光芯片到LED燈珠，失效模式有將近三十種，如表1，LED燈珠的失效模式表所示。這里將LED從組成結(jié)構(gòu)上分為芯片和外部封裝兩部分。 那么， LED失效的模式和物理機(jī)制也分為芯片失效和封裝失效兩種來進(jìn)行討論。
2018-07-12 14:34:007820 對(duì)于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2019-05-16 16:24:546376 進(jìn)行分析，找出所有潛在的失效模式，并分析其可能的后果，從而預(yù)先采取必要的措施，以提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性的一種系統(tǒng)化的活動(dòng)。
2021-05-21 16:09:5338712 質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。失效分析對(duì)提高LED產(chǎn)品的可靠性具有非常重要的意義，在產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)、使用中都需要引入失效分析工作。LED失效分析步驟必須遵循先進(jìn)行非破壞性、可逆、可重
2021-11-04 10:13:37571 、濕度相關(guān)的可靠性試驗(yàn)，對(duì)失效的產(chǎn)品進(jìn)行部件或者材料更換，直到通過測試則選用。雖然此模式可以簡單的完成產(chǎn)品的設(shè)計(jì)，然而未對(duì)失效的產(chǎn)品的失效根本原因進(jìn)行分析，對(duì)此后的技術(shù)發(fā)展有很大的阻礙作用。 ? 失效分析工作不僅僅在
2021-11-01 11:02:231239 
、濕度相關(guān)的可靠性試驗(yàn)，對(duì)失效的產(chǎn)品進(jìn)行部件或者材料更換，直到通過測試則選用。雖然此模式可以簡單的完成產(chǎn)品的設(shè)計(jì)，然而未對(duì)失效的產(chǎn)品的失效根本原因進(jìn)行分析，對(duì)此后的技術(shù)發(fā)展有很大的阻礙作用。 金鑒檢測在燈具可靠性檢
2021-11-13 11:57:04724 電容器的常見失效模式有： ――擊穿短路；致命失效 ――開路；致命失效 ――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等；部分功能失效 ――漏液；部分功能失效 ――引線腐蝕
2021-12-11 10:13:532688 失效分析在
產(chǎn)品的
可靠性質(zhì)量保證和提高中發(fā)揮著重要作用，在
產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)、使用中都需要引入
失效分析工作。 電子元器件檢測的意義： 元器件廠：獲得改進(jìn)
產(chǎn)品設(shè)計(jì)和工藝的依據(jù) 整機(jī)廠：獲得索賠、改變?cè)骷?/div>
2021-12-11 10:15:28580 不同種類的金屬材料和結(jié)構(gòu)件，在載荷、溫度、介質(zhì)等力學(xué)及環(huán)境因素作用下，經(jīng)常以磨損、腐蝕、斷裂、變形等方式失效。為了避免和預(yù)防事故發(fā)生，失效分析對(duì)新材料、新工業(yè)、新技術(shù)的發(fā)展。對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造技術(shù)改進(jìn)
2021-12-17 11:52:15882 
PCB在實(shí)際可靠性問題失效分析中，同一種失效模式，其失效機(jī)理可能是復(fù)雜多樣的，因此就如同查案一樣，需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段，方能找到真正的失效原因。在此過程中，任何
2022-02-11 15:19:0126 PCB在實(shí)際可靠性問題失效分析中，同一種失效模式，其失效機(jī)理可能是復(fù)雜多樣的，因此就如同查案一樣，需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段，方能找到真正的失效原因。避免造成“冤假錯(cuò)案”發(fā)生。
2022-07-19 09:27:482073 以使用先前關(guān)于過程的知識(shí)對(duì)當(dāng)前的觀測值進(jìn)行推斷。如果收集失效數(shù)據(jù)而其中不包含失效，則當(dāng)以下四個(gè)標(biāo)準(zhǔn)為真時(shí)，Minitab 可以執(zhí)行 Bayes 可靠性分析： ● 數(shù)據(jù)來自于 Weibull 或指數(shù)分布； ● 數(shù)據(jù)為右刪失數(shù)據(jù)； ● 使用極大似然法來估計(jì)參數(shù)； ● 您為形狀參數(shù)（Weibull 分布）
2022-12-20 15:10:53642 
為了實(shí)現(xiàn)企業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展，國內(nèi)電子制造公司越來越重視將可靠性和失效分析等技術(shù)應(yīng)用于實(shí)際產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量，促進(jìn)我國制造業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展。
什么是可靠性和失效分析，什么樣的公司
2023-01-30 17:25:43198 程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對(duì)于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749 失效率是可靠性最重要的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)，所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對(duì)提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041117 
有哪些呢？掌握了連接器的失效模式，對(duì)于用戶在選擇更加可靠的連接器產(chǎn)品，同時(shí)在使用時(shí)盡量規(guī)避不利因素影響等方面，具備很強(qiáng)的現(xiàn)實(shí)意義。連接器失效分析01連接器失效模式對(duì)于連接
2022-10-18 09:40:19521 
本文通過對(duì)典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對(duì)各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930 電路耦合效應(yīng)分析 耦合性高好還是低好 電路耦合效應(yīng)是指兩個(gè)或更多電路之間存在的相互影響的現(xiàn)象。在電路中，一個(gè)信號(hào)的變化可能會(huì)引起另一個(gè)信號(hào)的變化，這是因?yàn)殡娐分胁煌糠种g存在電磁耦合、熱耦合等作用
2023-09-22 12:47:491887 BGA（Ball Grid Array）是一種高密度的表面貼裝封裝技術(shù)，它將芯片的引腳用焊球代替，并以網(wǎng)格狀排列在芯片的底部，通過回流焊與印刷電路板（PCB）上的焊盤連接。然而，BGA也存在一些可靠性問題，其中最常見的就是焊點(diǎn)失效。本文主要介紹兩種典型的BGA焊點(diǎn)失效模式：冷焊和葡萄球效應(yīng)。
2023-12-27 09:10:47233 已全部加載完成
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