前言
二次元測量檢測儀器設備Z 軸增加測頭或激光位移傳感器等設備后還可對 3D 圖形元素如圓柱、圓錐、圓球、以及三維空間內的面進行測量。根據元素的實際特征，每種元素可采用多種不同的方法測量。尋邊結束即可直接獲取出元素的坐標值、長度、面積、體積等數據。
一、產品描述
1.產品特性
二次元測量檢測儀器設備Z 軸增加測頭或激光位移傳感器等設備后還可對 3D 圖形元素如圓柱、圓錐、圓球、以及三維空間內的面進行測量。根據元素的實際特征，每種元素可采用多種不同的方法測量。尋邊結束即可直接獲取出元素的坐標值、長度、面積、體積等數據。
2.技術規格
規格型號 | TOCK-432PT-H |
量測范圍（XYZ） | 400X300X200 |
重量 | 280KG |
承重 | 30KG |
傳動方式 | V導軌+光軸 |
平臺、底座材質 | 高精度花崗巖00級（山東濟南青） |
XY 精度 | （3+L/200）μm |
光柵尺分辨率 | XYZ：0.5μm |
鏡頭 | 4K高清鏡頭 |
鏡頭倍率 | 光學放大倍率：0.7X-4.5X |
CCD影像 | 1/1.8靶面尺寸 200萬像素彩色CCD |
光源 | LED白色近平行光+上光源 （軟件和手動兩種控制方式） |
量測軟件 | INS-M |
二、支持鏡頭畸變補償，有效降低因鏡頭畸變帶來的測量誤差
- 將傳統像素校準、中心補償與畸變校準算法集成在一起，可一鍵解決標定問題
- 支持移動式工作機臺拼接測量，并提供多種補償方式，提升機臺精度與穩定性
- 尋邊和過濾算法，大幅提升邊緣抓取的穩定性
- 亞像素算法，顯著提升邊緣精準度與重復性
- 深入優化的定位與補償算法，極大縮短絕對測量時間，真正實現閃測效果
- 根據不同用戶偏好，支持多種數據結果呈現格式
- 特征匹配算法，支持復雜特征匹配與多工件測量
- 支持按比例保存拼接后的捕獲的源圖，源圖可供客戶其它分析使用
