在此估算器中，辨識(shí)結(jié)果與 SOH 之間的非線性映射函數(shù)如下：SOH ＝ g （P1， P2， P3， ．．．）此處 Pi 是第 i 個(gè)辨識(shí)的電池參數(shù)。在圖 2 中，只有一個(gè)參數(shù)被考慮進(jìn)來(lái)——?dú)W姆放電電阻；然而，一個(gè)聯(lián)合的參數(shù)可以被用在此框架中。此技術(shù)的缺點(diǎn)是需要在各種條件下的足夠大量的測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)訓(xùn)練此模型。比如，卡爾曼濾波器用來(lái)在線辨識(shí)電池的歐姆電阻，用于 SOH 估算。同時(shí)，對(duì)電池老化的過(guò)程進(jìn)行研究，建立各種條件下的歐姆電阻與 SOH 關(guān)系的查表。最終，整個(gè)系統(tǒng)是由參數(shù)辨識(shí)器（KF）和查表組合而成，使用的概念類似于圖 2 展示的框架。

　　機(jī)械疲勞理論估算 SOH

　　此方法來(lái)源于機(jī)械疲勞理論（Mechanical Fatigue Theory）。機(jī)械疲勞理論在闡述了在不同的載荷作用下的“疲勞現(xiàn)象”。在某些情況下，組件可能會(huì)承受反復(fù)的開關(guān)負(fù)載。一定數(shù)量的負(fù)載循環(huán)之后，內(nèi)部可能會(huì)出現(xiàn)疲勞現(xiàn)象，此現(xiàn)象通常可能導(dǎo)致組件的崩潰。使用機(jī)械疲勞理論，在這種負(fù)載的條件下，組件的壽命可以被估算成循環(huán)數(shù)的函數(shù)。基于機(jī)械疲勞理論的電池 SOH 估算方法的技術(shù)之一的理論是“損害累積”（Damage Accumulation）。用這種方法，電池的老化是使用一個(gè)框架來(lái)估算的，在這個(gè)框架中，機(jī)械部件的老化時(shí)用 Palmgren－Miner 規(guī)則來(lái)計(jì)算的。該規(guī)則定義了在一些列可變負(fù)載下的組件的機(jī)械壽命。組件的壽命是根據(jù)在給定條件下施加的負(fù)載的循環(huán)數(shù)來(lái)計(jì)算。在此類表述中，組件的 EOL 由壽命降低指數(shù)（LRI）來(lái)定義，介于 0 和 1 之間，單位值表示 EOL。