本幅頻特性測試裝置采用STM32F407 MCU為主控芯片，并通過集成式DDS頻率合成模塊與程控衰減器實現幅度可調與具有掃頻功能的信號源。通過級聯高性能可變增益放大器AD8367，從外部施加0至1V的模擬增益控制電壓，實現頻帶內0-40dB增益連續可調。采用高速對數檢波模塊進行信號幅度檢測，并結合MCU產生的脈沖觸發信號可在示波器上顯示幅頻特性曲線。通過主機MCU對檢波結果進行AD采樣，并將數據通過單條雙絞線與從機MCU通信，并通過從機DA轉換在示波器上間接輸出顯示幅頻特性曲線。

　　一。系統方案

　　1.方案比較與選擇

　　1）信號源

　　方案一：使用鎖相環集成電路。

　　使用鑒相器和VCO集成芯片搭建鎖相環頻率合成模塊，但整體系統復雜，調試困難，若設置不當會導致鎖定時間慢、信號質量較差。

　　方案二：使用集成式直接頻率合成芯片AD9959。

　　該直接頻率合成芯片的輸出頻率范圍在0.12Hz-250MHz之間，完全滿足題目要求的1MHz-40MHz范圍。此外，該芯片具有靈活的程序控制功能，能借助MCU輕松實現本題中可調點頻輸出與掃頻的功能要求。

　　綜合以上兩種方案，方案二使用簡單且性能優異，故選擇方案二。

　　2）放大器

　　方案一：可調多級放大器。由多級運算放大器進行同相或反相放大組成，通過滑動變阻器改變反饋電阻達到0-40 dB連續可調，該方案實現簡單，但電路中含有多個滑動變阻器而導致電路冗余，不便調節。

　　方案二：程控衰減器 + 固定增益放大器。采用程控衰減器和固定增益放大器組合。雖然該方案控制靈活，噪聲系數小，但增益通過步進調整而非連續可調，不滿足題目要求。

　　方案三：級聯電壓控制增益放大器。選用具有45 dB增益可調的可控增益放大器AD8367級聯，通過外加控制電壓的連續變化實現增益連續可調，電路原理簡單，且控制靈活，滿足題目要求。

　　方案四：寬帶射頻放大器+PIN衰減器。采用寬帶射頻放大器和PIN二極管衰減器組合的結構能夠滿足頻響差與動態范圍的綜合指標。但電路較為復雜，調試難度較高。

　　綜上可知，方案三電路原理簡單，滿足題目要求且易于調試，故選擇方案三。