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電子發燒友網>電子資料下載>測試測量>開放式電阻抗成像中數字相敏檢波器設計

開放式電阻抗成像中數字相敏檢波器設計

2010-07-29 | rar | 230 | 次下載 | 10積分

資料介紹

開放式電阻抗成像技術對測量系統的精度要求很高,為此研制了基于FPGA的數字相敏檢波器(DPSD)以用于電阻抗成像的數據測量。通過分析DPSD的信號采集與計算原理,給出了關鍵參數的計算,基于DDS技術的ADC時鐘設計方法。同時設計了高速多通道ADC轉換電路,低抖動性能的ADC時鐘電路、FPGA實現實時數字相敏檢波的計算方法,提高了系統的信噪比。經實驗測試表明,在1KHz~1MHz正弦信號注入頻率的條件下,系統的信噪比最高可達104dB,精度高,穩定度好。
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