標(biāo)簽 > 電路可靠性
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電路可靠性是系統(tǒng)或元器件在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時間內(nèi),完成規(guī)定功能的能力,從集成電路的誕生開始,可靠性的研究測試就成為IC設(shè)計、制程研究開發(fā)和產(chǎn)品生產(chǎn)中的一個重要部分,制程可靠性評估采用特殊設(shè)計的結(jié)構(gòu)對集成電路中制程相關(guān)的退化機理(WearoutMechanism)進行測試評估。
2.3 至 4.2 GHz 120 W 2300-2700 MHz 高增益和線性 700 – 1000 MHz 高增益和線 用于 2G/3G 收發(fā)器的 700-10 1700-2200 MHz 高增益 700-1000 MHz 高增益 700–1000 MHz 高線性度、單通 200-5000 MHz 單下變頻混頻器 2300-2700 MHz 高增益 用于 2G/3G 收發(fā)器的 1700-2 1500-2700 MHz 正交調(diào)制器 500-1500 MHz 正交調(diào)制器
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