1 USB EHCI 主端控制器測試

　　每個設備應該能響應USB規范所定義的控制請求。主端應該能利用主端控制器經USB纜線送出控制需求到USB設備。

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　　圖3 EHCI 主端控制器測試架構

　　測試方法如下：USB測試Class驅動呼叫由USB IP核提供更高層的API，經USB子系統送出需求到USB設備。接著, 主端經控制端點(Endpoint)接受控制IN/OUT，然后解析/獲得回應數據/狀況用以核對其正確性。此外, 每個USB設備應該包含幾個必需的描述符并依靠所接受的Get_Descriptor需求的內容來回應這些描述符。圖3中PC安裝Windows 2000或是Windows XP，利用ARM ADS1.2的AxD調試器，FA5 CPU的ICE一端連接PC的打印機口或是USB口，另一端連接開發板，開發板的另一端則是各種USB設備，如USB集線器、攝像頭、鼠標、鍵盤和U盤。

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　　圖4 互測SNP和HNP的連接架構

　　2 OTG 測試

　　利用兩臺USB OTG開發板互測SNP和HNP的連接架構如圖4所示。

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　　圖5 大量存儲的應用測試

　　應用測試

　　如圖5所示，設計一個SD卡主端應用來做演示, SD卡的大量存儲用以測試FOTG200功能。FOTG200是智原的USB 2.0 OTG控制器, 能作為一個雙重角色。作為主設備，它包含一個USB主端制器，能支援所有速度的事務。無須軟件干涉的情形下，主端制器能處理一個基于事務的數據結構以減去主控CPU的負擔，自動地在USB總線上轉送和接收數據。作為從設備，每個端點，除了端點0，都承擔可編程的HS/FS傳輸類型提供彈性以適應各式各樣的應用。

　　在這個應用上, USB子系統由USB IP核、EHCI HCD控制器、USB大量存儲Class驅動、文件系統和SD卡設備驅動所組成。因此,主端設備能夠讀/寫文檔到SD卡(外部設備)。順便也能驗證大量存儲Class驅動和Bulk IN/OUT傳輸的功能。

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