數(shù)字驗(yàn)證處于數(shù)字IC設(shè)計(jì)流程的前端，屬于數(shù)字IC設(shè)計(jì)類崗位的一種。主要是對數(shù)字前端的設(shè)計(jì)做驗(yàn)證。

隨著芯片規(guī)模不斷加大，在IC設(shè)計(jì)過程中驗(yàn)證的復(fù)雜度也進(jìn)一步加到，需要的用到的崗位人數(shù)也越來越多；很多大公司，數(shù)字前端設(shè)計(jì)工程師與驗(yàn)證工程師的比例已經(jīng)達(dá)到1：3。

正因?yàn)樾酒母唢L(fēng)險(xiǎn)，才凸顯了驗(yàn)證的重要性。在流片之前，通過驗(yàn)證人員的驗(yàn)證活動，發(fā)現(xiàn)所有的設(shè)計(jì)bug，這就顯得特別重要。

下圖是一副比較完整的芯片端到驗(yàn)證端流程圖，大多數(shù)公司的驗(yàn)證流程是大同小異的，差異點(diǎn)在于各個(gè)流程中具體做的事情。

驗(yàn)證做任何事情都需要按照一定的流程來走，否則很容易陷入混亂之中，對剛?cè)腴T的新手來說，更是如此。通用流程大致如下：

1）提取測試點(diǎn)，明確驗(yàn)什么

分析FS/浮點(diǎn)平臺，提取芯片的規(guī)格及測試點(diǎn)；

分析AS/定點(diǎn)平臺，提取測試點(diǎn)；

分析DS，提取測試點(diǎn)并識別asic與算法的不一致點(diǎn)。

2）制定驗(yàn)證方案，明確怎么驗(yàn)

刷新測試點(diǎn)列表，明確測試點(diǎn)的覆蓋方式：功能覆蓋率、代碼覆蓋率、直接用例；

驗(yàn)證環(huán)境的搭建策略，這個(gè)步驟是可以做成自動化工具的；

驗(yàn)證的重點(diǎn)難點(diǎn)，提前識別重難點(diǎn)，并制定相應(yīng)的對策；

刷新用例列表，明確測試用例的方法及步驟。

3）用例執(zhí)行，隨機(jī)測試，發(fā)現(xiàn)bug

執(zhí)行直接用例，發(fā)現(xiàn)大部分的bug；

帶隨機(jī)的大量測試，試圖撞出bug。

4）完備性分析，確保無漏驗(yàn)

FA/AS完備性確認(rèn)，確認(rèn)FS/AS中的所有點(diǎn)都已納入測試點(diǎn)，并確保已被覆蓋，包括應(yīng)用場景；

接口完備性確認(rèn)，保證所有的接口時(shí)序都已覆蓋，包括正常時(shí)序及異常時(shí)序；

覆蓋率確認(rèn)，分析所有的代碼覆蓋率、功能覆蓋率，保證全部覆蓋；

代碼分析，熟練掌握電路的實(shí)現(xiàn)邏輯，保證所有的電路corner都已覆蓋。

上述這幾個(gè)步驟是一個(gè)比較規(guī)范的流程，只要每個(gè)步驟都做好，基本就能做到無漏測、零漏驗(yàn)。

編輯：黃飛

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