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WAYON維安高壓超結MOSFET,輕松解決LED電源浪涌

KOYUELEC光與電子 ? 來源:KOYUELEC光與電子 ? 作者:KOYUELEC光與電子 ? 2023-01-06 13:04 ? 次閱讀
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WAYON維安高壓超結MOSFET,輕松解決LED電源浪涌-授權方案設計代理商KOYUELEC光與電子

LED作為新型照明光源,具有高效節能、工作壽命長等優點,目前已廣泛使用于LED顯示、車用電子、生活照明等各種照明場景。LED恒流驅動特征需要特定的AC-DC恒流驅動電源,為了提高電源能效,LED的驅動電源一般采用單級PFC的拓撲。


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圖一單級PFC拓撲結構


如圖一所示,單級PFC的拓撲結構在輸入端整流橋高壓MOSFET之間沒有高容量的電解電容,在遭遇雷擊浪涌時,浪涌能量很容易傳輸到MOSFET上,高壓MOSFET VDS易過電壓,此時MOSFET很容易發生雪崩現象。在開關電源中,研發工程師要求MOSFET盡可能少發生或不發生雪崩。

雪崩是指MOSFET上的電壓超過漏源極額定耐壓并發生擊穿的現象。圖二為600V MOSFET的安全工作區示意圖,圖中紅色標線為安全工作區的右邊界。雪崩發生時,漏源兩端的電壓超過額定BVDSS,并伴隨有電流流過漏源極,此時MOSFET工作在此邊界的右邊,超出安全工作區(SOA)。


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圖二某600V MOSFET安全工作區(SOA)


如圖三所示雪崩測量電路及波形,一旦超出安全工作區,MOSFET功耗將大增。左圖為雪崩測試的標準電路,右圖為雪崩期間的運行波形。MOSFET在關斷時因VDS電壓過高而進入雪崩狀態,雪崩期間漏源極電壓電流同時存在,其產生的瞬時功耗達到數KW,會大大影響整個電源的可靠性。且雪崩期間,必須保證其溝道溫度不超過額定溝道溫度,否則容易導致器件過溫失效。


poYBAGO3q_WALdNkAAClCl1WGWw414.png

圖三雪崩測量電路及波形


那么,應該如何避免MOSFET應用時的雪崩破壞呢?從浪涌防護的角度來說,電源工程師可以增加AC輸入端浪涌防護元件的規格,使AC前端器件防護元件吸收掉絕大部分浪涌能量,降低浪涌殘壓,如增加壓敏電阻的尺寸、選擇殘壓更低的壓敏以及增加RCD浪涌吸收電路等。另外,亦可選擇更高電流ID或者更高耐壓規格的MOSFET避免其自生發生雪崩,但更高的ID往往意味著更高的成本,故而,選擇更高耐壓規格成為一種更簡易安全且極具性價比的方案。

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圖四800V MOSFET浪涌測試波形

CH2 VDS (藍色 200V/div)

CH3 IDS (紫色 1A/div)


poYBAGO3q_aAZ4eqAABOE01cMsA810.png

圖五650V MOSFET浪涌測試波形

CH2 VDS (藍色 200V/div)

CH3 IDS (紫色 1A/div)


圖四為使用耐壓為800V MOSFET的LED驅動電源在浪涌發生的波形。圖五為耐壓為650V MOSFET的50W LED驅動電源在浪涌發生時的波形,二者的浪涌測試條件完全相同。

圖四圖五中VDS波形突然升高的時刻即為浪涌來臨的瞬間,圖四中的VDS最大電壓為848V,圖五中VDS最大電壓為776V。雪崩消耗的能量來自于浪涌,圖五中650V MOSFET關斷期間還有較大的漏源電流流過,雪崩現象比較明顯。圖四中800V MOSFET在關斷期間電流為0,沒有發生雪崩現象,表明傳輸到器件上的浪涌能量不足以引起雪崩,可見在該電源中使用800V耐壓的MOSFET大大提高了浪涌安全裕量,避免器件發生雪崩。

在LED驅動電源,工業控制輔助電源等應用中,電源工程師在設計浪涌防護時,可選擇耐壓更高的MOSFET,耐壓高的器件可將浪涌能量擋在AC 輸入端,讓輸入端口的MOV防護器件來吸收,避免MOSFET超過安全工作區。這樣可以大大提高整機電源的浪涌防護能力。

LED作為21世紀的綠色照明產品,正在大量取代傳統的光源。依托龐大的LED市場,國產器件在SJ MOSFET領域替換進口品牌的潛力極大。維安結合市場和客戶的需求,在產品工藝、封裝上持續創新,針對LED照明領域通用的800V以上耐壓的規格,在產品系列、規格尺寸上也更加齊全。

pYYBAGO3q_iAOuVSAAKXZSgN5-g231.png

表一 維安800V SJ-MOSFET 主推規格列表


上述表格中,03N80M3,05N80M3可以應用在浪涌要求較高的輔助電源中,比如工業380VAC輸入的3-5W輔助電源。相比650V規格,其浪涌能力明顯提高;相比平面工藝的2N80規格,導通電阻明顯降低,溫升和效率性顯著提升。

審核編輯黃昊宇

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