昊衡科技推出的光纖微裂紋檢測儀，可用于光器件、光模塊內部耦合點、連接點性能檢測，以及微米級長度測量，是國產裂紋檢測儀中的佼佼者。

圖1.光纖微裂紋檢測儀

光纖微裂紋檢測儀（OLI）可用于各類型接頭回損的測量，在測量FC/APC接頭回損的過程中，我們發現了很有趣的現象。

圖2. 蓋緊的防塵帽

圖3. 測試結果

防塵帽蓋緊測量結果顯示三個峰，第一個峰為FC/APC接頭端面反射、第二個峰和第三個峰為防塵帽尾端兩個反射，如圖3所示。第一個峰和第二個峰之間相距1.47mm。

圖4.峰值示意圖

圖5. 防塵帽向后移動

向后移動防塵帽，測試結果如圖6所示有三個峰，后兩個峰值有所降低，因為光在空氣中傳輸距離變長，損耗變大，第一個峰和第二個峰間距變為3.40mm，第二個峰和第三個峰的距離不變，峰值位置符合上述分析。

圖6. 測試結果

以上峰值間距在折射率為n1=1.467（設備默認折射率）下測得，則防塵帽向后移動距離L1=(3.40mm-1.47mm)=1.93mm，但光在空氣傳播，折射率為n2=1，所以防塵帽實際向后移動距離L2=L1*n1/n2=2.83mm。

光纖微裂紋檢測儀（OLI）可以精確定位整個掃描范圍內的回波損耗，實現微米級光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。