以白光干涉技術(shù)為原理的SuperViewW1白光干涉儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

粗糙度分析操作步驟:
1.將樣品放置在夾具上,確保樣品狀態(tài)穩(wěn)定;
2.將夾具放置在載物臺(tái)上;
3.檢查電機(jī)連接和環(huán)境噪聲,確認(rèn)儀器狀態(tài);
4.使用操縱桿調(diào)節(jié)三軸位置,將樣品移到鏡頭下方并找到樣品表面干涉條紋;
5.完成掃描設(shè)置和命名等操作;
6.點(diǎn)擊開始測(cè)量(進(jìn)入3D視圖窗口旋轉(zhuǎn)調(diào)整觀察一會(huì));
7.進(jìn)入數(shù)據(jù)處理界面,點(diǎn)擊“去除外形”,采用默認(rèn)參數(shù),點(diǎn)擊應(yīng)用獲取樣品表面粗糙度輪廓;
8.進(jìn)入分析工具模塊,點(diǎn)擊參數(shù)分析,直接獲取面粗糙度數(shù)據(jù),點(diǎn)擊右側(cè)參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)可更換參數(shù)標(biāo)準(zhǔn),增刪參數(shù)類型;
9.如果想獲取線粗糙度數(shù)據(jù),則需提取剖面線;
10.進(jìn)入數(shù)據(jù)處理界面,點(diǎn)擊“提取剖面”圖標(biāo),選擇合適方向剖面線進(jìn)行剖面輪廓提取;
11.進(jìn)入分析工具界面,點(diǎn)擊“參數(shù)分析”圖標(biāo),點(diǎn)擊右側(cè)參數(shù)標(biāo)準(zhǔn),勾選所需線粗糙度相關(guān)參數(shù),即可獲取線粗糙度Ra數(shù)據(jù)。
-
測(cè)量
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