模數轉換器（ADC）是數字電子系統(tǒng)中重要組成部分，用于捕獲外部世界的模擬信號，如聲音、圖像、溫度、壓力等，并將它們轉化為數字信號0\1, 以供計算機進行處理分析。ADC芯片在出廠交付之前，需要對產品的性能做各種測試，尤其對于要求可靠性和安全性較高的行業(yè)，諸如航空航天、醫(yī)用醫(yī)療、汽車電子等應用領域，都需要對ADC芯片做嚴苛的性能測試驗證。

ADC測試參數主要包括靜態(tài)參數和動態(tài)參數。靜態(tài)參數主要表示ADC實際測量的輸出曲線和理想輸出曲線的關系，而動態(tài)參數著重分析ADC的頻譜特性。

靜態(tài)測試常見參數

• DNL：對于給定的輸入范圍，ADC輸出之間的步進量誤差，用于衡量實際輸出碼和理想輸出碼的差距。
• INL：積分非線性，整個輸入范圍內的非線性誤差，即真實與理想情況下碼寬誤差的累計。
• Offset：積分非線性，整個輸入范圍內的非線性誤差，即真實與理想情況下碼寬誤差的累計。
• Gain：增益誤差。輸出全是1時，對應的實際電壓和理想電壓之差。
• TUE：在考慮所有誤差來源的情況下，評估轉換器的整體性能。
• Missing code：輸出范圍中未被轉換器所表示的編碼值。

圖1. ADC靜態(tài)參數測試

動態(tài)測試常見參數

• THD：總諧波失真，轉換過程中非線性引起的諧波失真。
• SNR：信噪比，輸出信號與內部噪聲之比。
• SFDR：無雜散動態(tài)范圍，就是基頻信號不存在額外雜散分量的最大范圍。
• ENOB：實際有效位數。在噪聲和失真存在的情況下，ADC實際可達到的位數。

圖2. ADC動態(tài)參數測試

德思特ADC測試解決方案

圖3. 德思特ADC測試臺架ATX7006A

目前針對ADC芯片的性能測試，表現出朝著高采樣率、高精度等性能參數測試的發(fā)展趨勢。

德思特提供完整的ADC測試解決方案，能夠測試8-24位的ADC芯片，功能測試涵蓋幾乎所有典型的性能參數測試（包括靜態(tài)參數測試和動態(tài)參數測試）。我們采用緊湊型模塊化集成的ATE測試硬件臺架，配套專用的測試分析軟件ATView和WaveAnalyzer，給您提供ADC測試交鑰匙解決方案。

德思特ADC測試平臺特點

? 完全集成的ADC測試解決方案

? 采樣頻率高達200/400 MHz

? 無與倫比的信號發(fā)生質量和精度

? 支持所有線性/動態(tài)測試

? 靈活和通用的數字IO

? 擴展分析軟件ATView\WaveAnalyzer

? 靜態(tài)、直方圖測試

? 易于用戶自定義的測試腳本

圖4. 德思特ADC測試系統(tǒng)架構

圖5. 德思特ADC測試配套軟件ATView 7006