湖南進芯電子成功獲得了一項關于“上電后存儲并行自檢系統及方法”的專利，該專利已于2024年5月14日正式授權發布（CN117667547B），其初始申請日期為2023年12月13日。據悉，此項發明主要面向存儲器自檢技術領域，其中涉及到多個子模塊，由云平臺通過網絡進行溝通協調。

具體操作流程如下：通過自檢判斷模塊啟動存儲自檢，接著由自檢執行模塊對所有存儲器進行逐個檢查，同時設定定時計數器記錄進度。待所有存儲器均完成自檢后，設置自檢標志。中央處理器模塊會獲取自檢標志，并與預設的時間窗口進行比對。如果符合要求，則清除定時計數器的值并進入主程序；否則，產生溢出標志并引發不可屏蔽中斷。最后，維保匹配模塊將根據不可屏蔽中斷生成故障參數表，導入匹配故障庫生成維保數據信息，以便安排維保人員進行相應處理。