今天，閃光科技為大家介紹一款極具革命性的產(chǎn)品——maxLIGHT pro高效率平場XUV光譜儀。這款光譜儀以其卓越的性能和多功能性，成為研究極紫外(XUV)光譜的理想工具，助力科研和工業(yè)領(lǐng)域的光譜分析。

01、產(chǎn)品優(yōu)勢

高效率平場設(shè)計：采用優(yōu)化的光學設(shè)計，能夠在極紫外(XUV)波段內(nèi)提供高效率和高靈敏度的光譜測量。獨特的無狹縫設(shè)計最大限度地收集光信號，盡可能提高光信號的通過量，與傳統(tǒng)光譜儀相比提高了20倍。

寬光譜覆蓋范圍：能夠覆蓋從真空紫外(VUV)到XUV的寬波段范圍，適用于多種光譜應用。

集成光束分析：提供全面的光束分析功能，可以提供對信號光做更多維度的分析。

模塊化、成套設(shè)計：模塊化設(shè)計適應各種實驗條件和配置，靈活便捷，滿足不同用戶的特殊需求。

技術(shù)參數(shù)

應用范圍：

● 高次諧波源

● 阿秒科學

● 強激光-物質(zhì)相互作用

● 自由電子激光

● 激光和放電產(chǎn)生的等離子體源

● x射線激光

● 激光驅(qū)動二次光源

02、數(shù)據(jù)實測

以下實測數(shù)據(jù)可以說明為何稱maxLIGHT pro是極具革命性的產(chǎn)品：

(I)maxLIGHT與普通光譜儀分辨率、信號強度對比。

樣品測量展示了信號強度的提升。在相同的信號強度下，maxLIGHT(實線)的分辨率明顯高于標準光譜儀(虛線)。為了達到相同的分辨率，標準技術(shù)需要使用窄縫設(shè)置，這會顯著降低信號強度。專有的無縫技術(shù)能夠同時提供高分辨率和高信號強度。(數(shù)據(jù)由Paul Scherrer研究所的C. Hauri教授提供)

(II )maxLIGHT光譜解析能力。

樣品測量展示了maxLIGHT的解析能力。展示的高次諧波光譜是通過單個飛秒激光脈沖與固體靶相互作用并經(jīng)過后續(xù)光譜濾波生成的。XUV光譜儀清晰解析了生成過程中固有的子結(jié)構(gòu)。《Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)》

(III)HHG光譜

左圖示在kagome-PCF(Kagome Photonic Crystal Fiber)中展寬的25飛秒脈沖的光譜。隨著泵浦能量的增加，光譜在波長范圍500 nm到900 nm之間顯著展寬，特別是在700 nm附近的紅移。通過孤子自頻藍移效應，kagome-PCF能夠生成更寬的光譜，為后續(xù)的高次諧波生成提供更寬的輸入光譜。右圖示maxLIGHT XUV光譜儀測量的高次諧波生成光譜，波長范圍在30 nm到55 nm之間。隨著泵浦能量的增加，高次諧波生成的光譜也發(fā)生了變化，maxLIGHT XUV光譜儀能夠清晰解析高次諧波生成過程中的子結(jié)構(gòu)，展示了其卓越的光譜解析能力。

上圖展示使用maxLIGHT XUV在150kHz重復頻率下成功地測量了HHG光譜，分析不同載波包絡相位和光束發(fā)散情況下的光譜特性。

03、現(xiàn)場實拍

關(guān)于HP Spectroscopy

HP Spectroscopy成立于2012年，擁有數(shù)十年的光譜儀器開發(fā)和制造經(jīng)驗，是全球領(lǐng)先的科學儀器開發(fā)商和供應商。公司致力于為全球?qū)W術(shù)界和工業(yè)界的客戶提供最尖端的光譜學工具、探測器解決方案和光束儀器，并且能夠根據(jù)客戶需求提供定制化產(chǎn)品和應用解決方案。

深厚的技術(shù)積累：

70年的光譜技術(shù)積累：HP Spectroscopy結(jié)合了超過70年的光譜專業(yè)知識。公司團隊由光譜學、光柵設(shè)計、等離子體物理、激光技術(shù)和X射線技術(shù)領(lǐng)域的專家，以及機械、電子和軟件工程師組成，確保能夠為客戶提供高質(zhì)量和最前沿的產(chǎn)品。

全球客戶分布：

HP Spectroscopy與全球研究機構(gòu)的頂尖科學家密切合作，共同創(chuàng)新和推動測量領(lǐng)域的發(fā)展。HP Spectroscopy客戶遍布全球各地，從學術(shù)研究到工業(yè)應用，HP Spectroscopy的產(chǎn)品和解決方案被廣泛應用于各種前沿科學研究和技術(shù)開發(fā)中。

通過不斷的創(chuàng)新和技術(shù)積累，HP Spectroscopy在光譜技術(shù)領(lǐng)域建立了堅實的基礎(chǔ)，并將繼續(xù)為全球客戶提供最先進的科學儀器和解決方案，助力科學研究和工業(yè)發(fā)展的進步。

審核編輯 黃宇