10月17-18日，由NVIDIA主辦的2024 NVIDIA創業企業展示——半程展示活動在西交利物浦大學成功舉辦。來自全國各地的31家杰出企業受邀參與本次活動，這些企業在歷經9城的展示中脫穎而出，齊聚蘇州，圍繞大語言模型、生成式 AI、數字孿生、自主機器與邊緣計算等熱門領域，共同探索科技創新與行業變革的新路徑。阿丘科技作為受邀企業之一，亮相活動現場，通過展品與路演，分享了在工業質檢領域的最新技術創新與實踐成果，并榮獲“卓越企業”證書。

展位直擊：核心產品展風采

活動現場，阿丘科技向參會嘉賓展示了兩款核心產品——工業AI視覺算法平臺軟件 AIDI 以及深度學習智能相機 EVS-SC200。在NVIDIA技術支持下，這兩款產品充分發揮了NVIDIA GPU的優勢，支持高效能運算，實現流暢的運行體驗。

AIDI是面向工業視覺場景，基于深度學習打造的工業AI視覺算法平臺軟件，實現算法方案設計、圖像標注、模型訓練、模型調優、方案驗證、模型部署的全流程功能，用于解決復雜缺陷的定位、檢測、分類及字符識別等問題，具有檢測精度高、檢測速度快、樣本依賴少的強大檢測能力。EVS-SC200集AI算法、軟件、硬件于一體，賦能多種工業應用場景，有效解決復雜OCR、裝配檢查、計數、外觀檢測、分類等問題。產品無需編程，幫助用戶快速構建解決方案，賦能生產及組裝工藝過程管控，助力企業高良率生產。

路演現場：最新技術實踐分享

路演環節，阿丘科技首席增長官CGO李俊周分享了公司在工業質檢領域的最新技術突破與實踐成果。針對工業質檢領域面臨的性能指標嚴苛、樣本數據少、產品換型快速等挑戰，阿丘科技在以下四個方面，進行了深入的技術創新。

工業視覺小模型：研發針對工業場景的輕量級神經網絡DefectNet，用少量的缺陷樣本（20-30張）即可完成訓練。

良品學習：無需缺陷樣本，基于良品圖像建模；對復雜背景、小尺寸、低對比度缺陷也實現高檢測性能。工業數據生成：針對工業缺陷收集難題，基于預訓練模型與Stable Diffusion等AIGC技術，生成缺陷更豐富、更逼真。行業視覺大模型：基于垂直行業數據訓練基礎模型，具備垂類泛化能力，結合場景數據迭代，大大縮短交付成本。

未來，阿丘科技將繼續深耕工業AI質檢領域，不斷探索新技術、新方法，為更多行業提供智能化、高效化的解決方案。

在此過程中，阿丘科技始終走在賦能全球制造業轉型升級的最前沿，近日更推出了產品實戰系列白皮書——《生成式AI如何改變AI缺陷檢測的傳統范式》，詳細介紹了生成式AI在缺陷檢測領域的應用，其如何通過深度學習技術生成高質量的缺陷數據，以及這一技術如何幫助制造業提高生產效率和產品質量。