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如何進行元器件篩選?

金鑒實驗室 ? 2024-12-19 12:37 ? 次閱讀
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電子元件的核心作用

在電子設備中,電子元件扮演著基礎而關鍵的角色,它們是電子通信、數(shù)據(jù)處理和自動化控制等技術領域的基石。


篩選的必要性

為了確保電子元件在其整個使用壽命內(nèi)都能穩(wěn)定工作,避免因元件本身的缺陷或制造過程中的差異導致的早期失效,必須依據(jù)應用環(huán)境選擇適當?shù)臏y試類型和條件進行篩選,以排除可能早期失效的元件。


篩選的分類

可靠性篩選涵蓋一次篩選、二次篩選、補充篩選、特定篩選和批次評價等多種類型。


一次篩選是制造商根據(jù)規(guī)范和標準進行的篩選;

二次篩選是為了控制電子元器件的質(zhì)量,在其投入使用前再次進行檢驗,是由用戶進行的篩選工作;


補充篩選是使用方有特殊要求,委托相關單位或制造商再次進行的篩選,特定篩選主要是針對一些有質(zhì)量要求的電子元器件開展的特定評價試驗;

批次評價則是通過對同一批電子元件進行抽樣測試,來評估該批次的整體質(zhì)量可靠性。


設計篩選程序的思路

1. 識別元件潛在的失效模式


元件的失效模式主要分為封裝失效和電氣性能失效。封裝失效可以通過環(huán)境因素加速潛在缺陷的暴露,以滿足設計指標。電氣性能失效包括連接性失效、功能性失效和電氣參數(shù)失效,涉及斷路、短路、電阻變化等問題,以及功能喪失或參數(shù)偏差。


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封裝失效(接觸區(qū)空洞超過接觸面積的1/2)


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連接性失效(鍵合絲之間接觸)


wKgZPGdjouGABvciAAGK3kFcxg0272.png

工藝控制不足導致多余物存在于器件內(nèi)部

2. 根據(jù)失效模式選擇試驗類型


金鑒實驗室的專業(yè)團隊能夠根據(jù)客戶需求,選擇最合適的試驗類型。依據(jù)GJB7243-2011《軍用電子元件篩選技術要求》,典型的篩選項目包括高溫存儲、電氣老化、溫度循環(huán)、恒定加速度、粒子碰撞噪聲檢測、密封測試、X射線檢測和C模式掃描聲學顯微鏡超聲檢測等。


3. 確定最終試驗方案


在確定最終試驗方案時,應考慮元件的潛在失效模式、電氣特性、材料屬性和封裝工藝,并據(jù)此設定試驗條件。優(yōu)先執(zhí)行失效概率高的試驗,并考慮到經(jīng)濟性和實效性,優(yōu)先選擇成本效益高和耗時短的試驗。典型設備圖所示:

wKgZO2djouqAVnR4AARW0df-1AM448.png


結論

電子元件的固有可靠性是產(chǎn)品設計的關鍵。由于人為因素、工藝水平、設備條件等影響,成品可能無法達到預期的可靠性。因此,在電子元件裝機前,通過篩選排除早期失效的產(chǎn)品是確保整機可靠性的關鍵步驟。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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