關鍵詞：雙脈沖測試，上管測試，下管測試，電源完整性測試套件

寬禁帶半導體作為第三代半導體功率器件的代表，正在電源處理領域發(fā)揮著日益重要的作用。這類材料憑借其高能量密度、高工作頻率以及耐高溫等天然優(yōu)勢，成為了眾多電源及電源模塊的首選材料。特別是在功率半導體中，上下管雙脈沖測試已經成為評估動態(tài)參數(shù)的經典方法，對于推動相關技術的發(fā)展具有重要意義。

那么，何為雙脈沖測試呢？

正如其名，雙脈沖測試是指向功率半導體器件施加兩個脈沖作為驅動控制信號的過程。其中，第一個脈沖寬度較大，旨在達到特定的電流強度。此脈沖的下降沿用于觀察關斷過程，而第二個脈沖的上升沿則用來監(jiān)測開通狀態(tài)。通過分析這兩個脈沖的輸出信號，可以有效評估兩個功率管的動態(tài)性能指標。

通常開關電源都需要進行上、下管測試，其經典的雙脈沖測試示意圖是這樣的：

上、下管的測試要求存在差異。對于上管的Vds測試，需要具備高共模抑制比，因此推薦使用具有優(yōu)異共模抑制性能的探頭（如光電隔離探頭）進行測量。至于電流測量，則通常需要穿過電路板執(zhí)行，故常選用柔性探頭（例如羅氏線圈）。相比之下，下管的測試較為簡單，電壓測量可以采用低噪聲單端探頭完成，而電流測量則可利用帶寬更高的電流探頭進行。此外，圖中所示需并聯(lián)的大電感，在實際測試時應與上管測試同步，并與下管并聯(lián)；在對下管進行測試時，則相應地將該電感與上管并聯(lián)，以確保測試的準確性和有效性。這種配置有助于優(yōu)化測試環(huán)境，確保獲得可靠且精確的測量結果。

通常情況下，雙脈沖測試需要專門的設備，包括測試夾具、自動化測試軟件、儀器和探頭等。然而，這種專業(yè)裝置的投資成本較高，對于研發(fā)工程師而言，未必是性價比最高的選擇。在日常測試中，我們可以采用EXR示波器搭配任意波形發(fā)生器，并選配電源與信號完整性分析軟件來高效完成測試任務。EXR系列示波器擁有高達6GHz的帶寬、16GS/s的采樣率以及1.6G的存儲深度，結合多種顯示模式和自動測量功能，輔以應用軟件的支持，能夠極大地提升測試效率和準確性。通過這樣的配置，電源工程師可以專注于電路設計的工作，在進行第三代半導體電源器件的動態(tài)雙脈沖測試時，無需擔憂測量的問題，真正實現(xiàn)了“雙管齊下”，讓測試過程更加簡便快捷，同時也確保了測試結果的精確性和可靠性。