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分立器件測試晶體管圖示儀靜態(tài)/動態(tài)參數(shù)SC2010半導(dǎo)體測試系統(tǒng)

黃輝 ? 來源:jf_81801083 ? 作者:jf_81801083 ? 2025-05-15 10:49 ? 次閱讀
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SC2010半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)

一、系統(tǒng)定位

作為STI5000系列測試機(jī)的國產(chǎn)化替代方案,SC2010系統(tǒng)實現(xiàn)了:

全自動I-V特性曲線生成

編程功能測試模塊

實時數(shù)字化結(jié)果顯示

二、核心性能

測試效率

單點測試時間:6-20ms

百點曲線生成:<5s

數(shù)據(jù)接口USB3.0/RS232雙模

安全保障

門極過壓保護(hù)(OVP)

自診斷測試代碼系統(tǒng)

實時狀態(tài)監(jiān)測

三、技術(shù)參數(shù)矩陣

指標(biāo)項參數(shù)范圍分辨率測試電壓0-2000V1mV測試電流0-100A0.1nA測試精度0.2%+2LSB-脈沖寬度300μs-5ms-

四、應(yīng)用場景

工業(yè)領(lǐng)域

封裝產(chǎn)線QC檢測

器件失效分析

組合器件測試

科研領(lǐng)域

高校實驗教學(xué)

研究所參數(shù)研究

新型器件開發(fā)

五、數(shù)據(jù)管理

輸出格式:Excel/Word雙格式

分析工具:ATE專業(yè)軟件

曲線精度:逐點校準(zhǔn)技術(shù)

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審核編輯 黃宇

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