目前集成電路后段互連的設(shè)計(jì)規(guī)則中存在三種電流相關(guān)規(guī)則,分別是:
Javg,對(duì)應(yīng)直流DC電流規(guī)則;
Jrms,對(duì)應(yīng)交流AC電流規(guī)則;
Jpeak,對(duì)應(yīng)最大脈沖瞬時(shí)電流規(guī)則。
文章下面將分三部分,分別對(duì)上述三種電流從來源機(jī)理,失效理論,和檢測(cè)手法等方面展開論述。
1. Javg
Javg,或稱Iavg/Jdc/Idc,即保證EM低風(fēng)險(xiǎn)的最大直流DC電流,是直接和電遷移效應(yīng)失效相關(guān)聯(lián)的。
所謂“電遷移”,簡單的表述其失效機(jī)理如圖1所示。中間大圓球代表帶正電的金屬離子。它受到兩種力的作用:一種是在電場(chǎng)影響下的作用力,一種是被電子撞擊,有動(dòng)量交換的產(chǎn)生,就是所謂的“電子風(fēng)”作用力的影響下,往另一個(gè)相反的方向移動(dòng)。
在電子風(fēng)作用力大于反向電場(chǎng)作用力的條件下,金屬離子發(fā)生移動(dòng),在宏觀上表現(xiàn)出物質(zhì)遷移運(yùn)輸?shù)默F(xiàn)象。
如圖2所示,電遷移會(huì)導(dǎo)致在金屬互連線和通孔附近產(chǎn)生空洞,并逐漸長大造成互連失效。
▲圖2
從數(shù)學(xué)計(jì)算的方面來看,Javg的計(jì)算公式(1)可以得到Javg電流首先是一個(gè)電流隨時(shí)間的積分平均值,并且該值是有方向性的。即正負(fù)方向的電流在這個(gè)積分平均中是會(huì)相互抵消的。這也是符合上面電遷移具有方向性機(jī)理的。
▲公式(1)
對(duì)Javg的檢驗(yàn)方法即電遷移EM評(píng)估,通常需要高溫,大電流(密度),長時(shí)間的加速實(shí)驗(yàn)。其測(cè)試流程是通過在施加溫度和電流時(shí)測(cè)量電阻,直至該測(cè)試樣品達(dá)到設(shè)定電阻變化,被判定失效發(fā)生,測(cè)試實(shí)驗(yàn)終止(參考JEDEC標(biāo)準(zhǔn)JEP001-1A)。電遷移EM作為集成電路失效的重要風(fēng)險(xiǎn)之一,是工藝可靠性重要和必須評(píng)估項(xiàng)目。
2. Jrms
Jrms電流所對(duì)應(yīng)相關(guān)的是金屬互連的自熱效應(yīng),是發(fā)生自熱低風(fēng)險(xiǎn)的最大電流值。雖然自熱本身是非破壞性的,將它引入設(shè)計(jì)規(guī)則,其目的是為了避免自熱導(dǎo)致環(huán)境溫度上升,從而使抗電遷移EM性能下降,失效風(fēng)險(xiǎn)增大。Jrms通常定義為升溫5℃溫度差條件下的電流值。
Jrms中rms的英文全稱是root-mean-square,數(shù)學(xué)上均方根的概念。
如公式(2)所示,其計(jì)算方法是對(duì)電流密度J平方隨時(shí)間積分平均的平方。
▲公式(2)
從公式中可以看到,和之前說過的Javg不同,Jrms電流是沒有方向性的。電流平方的數(shù)值其本身是含有能量概念,與前述的自熱效應(yīng)的原理是相呼應(yīng)的。
Jrms的數(shù)據(jù)可以通過實(shí)測(cè)獲得。與EM實(shí)驗(yàn)需要高溫大電流的專用設(shè)備機(jī)臺(tái)不同,采用普通半導(dǎo)體測(cè)試儀器亦可。其方法是通過測(cè)試獲得不同寬度金屬線的熱阻,并結(jié)合微觀熱學(xué)理論可以推導(dǎo)計(jì)算出不同線寬條件下的Jrms,將該和線寬相關(guān)公式放入設(shè)計(jì)規(guī)則中,并采用實(shí)際升溫5℃溫度差來作為Jrms定義數(shù)值。
3. Jpeak
Jpeak是設(shè)計(jì)允許的金屬互連的最大瞬時(shí)電流,其相對(duì)應(yīng)的是瞬時(shí)大電流導(dǎo)致燒毀發(fā)生的失效模式。
▲公式(3)
從其定義的公式(3)也可以看到該電流是沒有方向性的。它是超大電流下發(fā)生的燒毀損壞,可以看作是大電流導(dǎo)致自熱過大所造成的破壞。因此Jpeak遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于Jrms,通常是Jrms的十幾甚至幾十倍。
不過正因?yàn)镴peak電流值較大,在正常電路設(shè)計(jì)中的互連金屬線基本不會(huì)超過Jpeak如此嚴(yán)苛的場(chǎng)景。由此該設(shè)計(jì)規(guī)則在有些晶圓制造廠不會(huì)被提供。但是會(huì)針對(duì)上層金屬線可能經(jīng)受靜電放電ESD/電過應(yīng)力EOS的情況,特別做一些針對(duì)性的過流能力測(cè)試,比如TLP, 浪涌等實(shí)驗(yàn),也可以比較好的覆蓋潛在Jpeak失效風(fēng)險(xiǎn)。
總結(jié):
本文深入淺出的介紹了后段互連設(shè)計(jì)規(guī)則的三種電流(Javg/Jrms/Jpeak)。Javg電流規(guī)則是直接對(duì)應(yīng)電遷移失效。Jrms關(guān)聯(lián)對(duì)應(yīng)自熱效應(yīng),而Jpeak相對(duì)應(yīng)的是瞬時(shí)大電流導(dǎo)致燒毀發(fā)生的失效模式。
在本文中提到涉及多種測(cè)試實(shí)驗(yàn),失效檢測(cè)和分析手段,季豐電子都有承接相關(guān)業(yè)務(wù)的能力。
季豐電子
季豐電子成立于2008年,是一家聚焦半導(dǎo)體領(lǐng)域,深耕集成電路檢測(cè)相關(guān)的軟硬件研發(fā)及技術(shù)服務(wù)的賦能型平臺(tái)科技公司。公司業(yè)務(wù)分為四大板塊,分別為基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室、軟硬件開發(fā)、測(cè)試封裝和儀器設(shè)備,可為芯片設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝測(cè)試、材料裝備等半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈和新能源領(lǐng)域公司提供一站式的檢測(cè)分析解決方案。
季豐電子通過國家級(jí)專精特新“小巨人”、國家高新技術(shù)企業(yè)、上海市“科技小巨人”、上海市企業(yè)技術(shù)中心、研發(fā)機(jī)構(gòu)、公共服務(wù)平臺(tái)等企業(yè)資質(zhì)認(rèn)定,通過了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等認(rèn)證。公司員工超1000人,總部位于上海,在浙江、北京、深圳、成都等地設(shè)有子公司。
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原文標(biāo)題:技術(shù)分享 | 深入淺出講解后段互連設(shè)計(jì)規(guī)則的三種電流(Javg/Jrms/Jpeak)
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