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福晶科技參編的光熱透鏡法弱吸收率測試儀團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布

福建福晶科技股份有限公司 ? 來源:福建福晶科技股份有限公 ? 2025-05-22 17:36 ? 次閱讀
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團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

由福建福晶科技股份有限公司牽頭,聯(lián)合中國科學(xué)院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所、閩都創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室、中國工程物理研究院等多所科研院所聯(lián)合起草的《光熱透鏡法弱吸收率測試儀》(標(biāo)準(zhǔn)號:T/COEMA 220—2025)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn),通過了中國光學(xué)光電子行業(yè)協(xié)會組織的評審,并于2025年3月5日起實(shí)施。

此次發(fā)布的團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范了光熱透鏡法弱吸收率測試儀(PLI, Photothermal-Lensing absorption measuring instrument)的術(shù)語、原理與組成、要求、試驗(yàn)方法,以及儀器產(chǎn)品的檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等,涵蓋從研制到生產(chǎn)等多方面內(nèi)容,從而明確光熱透鏡法弱吸收率測試儀的定義和應(yīng)用范圍,為市場提供清晰指引;同時(shí)為研究人員提供統(tǒng)一測試方法,促進(jìn)技術(shù)創(chuàng)新和應(yīng)用拓展。

福晶科技作為全球知名的LBO晶體、BBO晶體、Nd:YVO?晶體、超精密光學(xué)元件、衍射光學(xué)元件、高功率光隔離器、聲光器件及電光器件的龍頭廠商,在激光光學(xué)等光電領(lǐng)域深耕三十余年,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用在激光制造、光通訊以及前沿科學(xué)研究等方面。在產(chǎn)品的各道檢測環(huán)節(jié),福晶科技運(yùn)用眾多先進(jìn)高精密光學(xué)檢測儀器來保證產(chǎn)品品質(zhì),在晶體、精密光學(xué)元件和激光器件的檢測方面積累沉淀了豐富的理論知識、實(shí)操經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)實(shí)力。正是憑借深厚的技術(shù)研發(fā)底蘊(yùn)與創(chuàng)新能力,公司測試中心自主開發(fā)了一系列精密光學(xué)檢測儀器,攻克解決國內(nèi)“小眾”檢測設(shè)備難求或價(jià)高的問題。如公司推出的PLI弱吸收測試儀,CRD高反射率測量儀和晶體生長紋測試儀等,其測試精度、穩(wěn)定性和一致性得到長期的驗(yàn)證,測試結(jié)果獲得了國內(nèi)外客戶的一致認(rèn)可。

目前,國內(nèi)光電行業(yè)檢測標(biāo)準(zhǔn)尚不統(tǒng)一,檢測設(shè)備種類繁多且質(zhì)量參差不齊,這在一定程度上制約了國內(nèi)光電行業(yè)的健康發(fā)展。作為全球光電行業(yè)晶體材料領(lǐng)域的標(biāo)桿企業(yè),福晶科技有責(zé)任推動國內(nèi)相關(guān)行業(yè)檢測設(shè)備和技術(shù)的國產(chǎn)化和標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)程,為此向市場推出了自主研發(fā)的光熱透鏡法弱吸收率測試儀,并牽頭組織了該標(biāo)準(zhǔn)的制定工作,從而填補(bǔ)了我國在光學(xué)材料弱吸收率檢測儀器領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)空白,為激光元件、光學(xué)薄膜、晶體材料等關(guān)鍵領(lǐng)域的高精度檢測儀器提供了技術(shù)規(guī)范。

福晶科技研制的PLI100弱吸收測試儀測量精度可達(dá)1 ppm,可實(shí)現(xiàn)一維深度掃描、表面吸收和體吸收的區(qū)分測量、時(shí)間掃描等功能,支持定制多泵浦光源和二維吸收分布掃描功能。目前,福晶已經(jīng)為多家企業(yè)、院校交付多款定制儀器產(chǎn)品,滿足客戶差異化的科研需求,通過高精度測量為光學(xué)元件性能優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。

PLI100弱吸收測試儀

1. 產(chǎn)品參數(shù)

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2. 測試實(shí)例

PLI100可根據(jù)定制需求實(shí)現(xiàn)不同波段下膜吸收、體吸收的測試,重復(fù)精度不大于5%,滿足團(tuán)標(biāo)《光熱透鏡法弱吸收率測試儀》(T/COEMA 220—2025)的相關(guān)規(guī)定。

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圖1.熔石英樣品1064nm膜吸收曲線

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圖2.熔石英樣品532nm膜吸收曲線

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圖3. LBO晶體基體吸收

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原文標(biāo)題:喜報(bào) | 福晶科技牽頭制定《光熱透鏡法弱吸收率測試儀》團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn),正式實(shí)施

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