資料介紹
本文檔的主要內(nèi)容詳細(xì)介紹的是組合邏輯自動(dòng)測(cè)試生成的PDF文件免費(fèi)下載包括了:? 自動(dòng)測(cè)試生成(ATPG)相關(guān)問(wèn)題 ? 組合(Combinational)邏輯ATPG算法相關(guān)概念 ? 組合邏輯ATPG算法 ? 通路敏化法(Path Sensitization Method) ? 包含故障的5值狀態(tài)系統(tǒng) ? D算法 ? Podem算法 ? FAN算法 ? ATPG系統(tǒng)構(gòu)成
測(cè)試過(guò)程中的角色 ? 可測(cè)試性量化計(jì)算(Testability Measures): ?可對(duì)測(cè)試電路內(nèi)部支路精確量化分析 ?只涉及被測(cè)電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)分析,不涉及測(cè)試矢量和搜索算法 ? 故障仿真(Fault Simulation): ?對(duì)于被測(cè)電路和給定的測(cè)試矢量,評(píng)估可檢測(cè)的故障列表(Fault list) ?涉及測(cè)試矢量(Vector或Pattern)和電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)分析,不涉及搜索算法
自動(dòng)測(cè)試生成(ATPG)問(wèn)題 ? ATPG: Automatic Test Pattern Generation ? 給定: ?被測(cè)電路(一般門(mén)級(jí)Gate-level) ?故障模型(通常是固定故障模型) ? 解決(或搜索): ? 為需要測(cè)試的故障模型尋找合適的輸入測(cè)試矢量(Vectors) ? ATPG的核心問(wèn)題:為給定的故障找到一個(gè)可測(cè)試它的矢量 ? ATPG的技術(shù)手段:搜索算法 + 故障仿真器(Simulator)
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