ic芯片檢測的幾種主要方法
1.替代法：用好的ic芯片替換可能存在問題的ic芯片，觀察恢復正常的時間，從而確定問題出在哪個ic芯片上。
2.拔擲法：把ic芯片從電路板上拔下來再重新插上，觀察是否正常工作，以此來判斷ic芯片是否損壞。
3.代換法：用正常的ic芯片來替換可能存在問題的ic芯片，觀察問題是否解決，從而確定問題出在哪個ic芯片上。
4.對比法：用已知正常的ic芯片和不良的ic芯片進行對比，找出存在問題的ic芯片。
5.示波器測試法：通過示波器來測試ic芯片的波形，從而判斷ic芯片是否正常。
否正常。
6.直流工作點測試法：通過對ic芯片的直流工作點進行測試，判斷ic芯片是否正常。
審核編輯 黃宇
聲明：本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內容侵權或者其他違規問題，請聯系本站處理。
舉報投訴
-
芯片
+關注
關注
459文章
52416瀏覽量
439474 -
IC
+關注
關注
36文章
6110瀏覽量
179082
發布評論請先 登錄
相關推薦
熱點推薦
數字IC設計：方法、技巧與實踐
主要內容：
芯片設計的背景知識
芯片設計流程和工具
構架(ARCHITECTURE)設計
RTL級設計和仿真
邏輯綜合和相關技術
芯片設計的項目管理
本文內容
發表于 05-28 16:06
PT2013 3通道電容式水位檢測IC中文手冊
PT2013 是一款 3 通道電容式水位檢測專用 IC， 它可以通過水槽外壁來檢測水位的變化。該芯片具有寬工作電壓、高抗干擾能力的特性。
發表于 03-20 17:42
?1次下載
PT2011電容式水位檢測IC規格書
PT2011 是一款電容式水位檢測專用 IC， 它可以通過水槽外壁來檢測水位的變化。該芯片具有寬工作電壓、低功耗、高抗干擾能力的特性。
發表于 03-20 17:20
?0次下載
Decap開蓋檢測方法及案例分析
開蓋檢測（DecapsulationTest），即Decap，是一種在電子元器件檢測領域中廣泛應用的破壞性實驗方法。這種檢測方式在芯片的失效
芯片封裝IC載板
一、IC載板：芯片封裝核心材料（一）IC載板：“承上啟下”的半導體先進封裝的關鍵材料IC封裝基板（ICPackageSubstrate，簡稱IC
Die Bonding 芯片鍵合的主要方法和工藝
共讀好書Die Bound芯片鍵合，是在封裝基板上安裝芯片的工藝方法。本文詳細介紹一下幾種主要的芯片
電子封裝 | Die Bonding 芯片鍵合的主要方法和工藝
DieBound芯片鍵合，是在封裝基板上安裝芯片的工藝方法。本文詳細介紹一下幾種主要的芯片鍵合的
環路測試方法有哪幾種
。環路測試的目的是確保循環能夠正確地開始、執行和終止，以及在循環內部的邏輯是否正確。 環路測試通常包括以下幾種方法： 基本路徑測試 ：這是最基礎的環路測試方法，它關注于測試循環的基本執行路徑。測試者會創建測試用例，確保循環能夠按照預期執行，包括循
LED驅動芯片的引腳功能主要包括哪幾種？
至關重要的角色 ? LED驅動芯片的引腳功能主要包括哪幾種？?? LED驅動芯片的引腳功能主要包括以下10種：? ?1. 電源引腳（VCC、
電導率的檢測方法有哪幾種
電導率是衡量溶液中離子濃度和電荷傳遞能力的重要參數，廣泛應用于水質分析、化工生產、生物醫學等領域。電導率的檢測方法有很多種，下面將介紹幾種常見的電導率檢測
工商網監
評論