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電子發(fā)燒友網(wǎng)>模擬技術(shù)>淺談SiC晶體材料的主流生長技術(shù)

淺談SiC晶體材料的主流生長技術(shù)

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SiC MOSFET的器件演變與技術(shù)優(yōu)勢(shì)

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SiC-MOSFET與Si-MOSFET的區(qū)別

從本文開始,將逐一進(jìn)行SiC-MOSFET與其他功率晶體管的比較。本文將介紹與Si-MOSFET的區(qū)別。尚未使用過SiC-MOSFET的人,與其詳細(xì)研究每個(gè)參數(shù),不如先弄清楚驅(qū)動(dòng)方法等
2018-11-30 11:34:24

SiC-MOSFET功率晶體管的結(jié)構(gòu)與特征比較

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2019-05-07 06:21:55

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SiC功率器件概述

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SiC大規(guī)模上車,三原因成加速上車“推手”

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GaN和SiC區(qū)別

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《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》GaN、ZnO和SiC的濕法化學(xué)蝕刻

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2011-11-03 15:42:2621

GT Advanced推全新MonoCast晶體生長系統(tǒng)

GT Advanced Technologies Inc.日前推出全新的 DSS450 MonoCast 晶體生長系統(tǒng)。
2012-02-05 10:44:22588

14.2 SiC晶體結(jié)構(gòu)和能帶

SiC
jf_75936199發(fā)布于 2023-06-24 19:22:10

一種新型4H_SiC雙極結(jié)型晶體管的研究

一種新型4H_SiC雙極結(jié)型晶體管的研究_仇坤
2017-01-07 21:45:572

SiC材料在牽引系統(tǒng)中的應(yīng)用

SiC作為寬禁帶半導(dǎo)體材料,與Si相比具有擊穿場強(qiáng)高、導(dǎo)熱系數(shù)高、載流能力大、開關(guān)速度快、可高溫工作等優(yōu)點(diǎn),適用于高壓、高溫、高頻等領(lǐng)域的應(yīng)用。
2018-05-17 09:27:124668

我國SiC單晶生長設(shè)備和粉料獲新突破

近日,在中國電子科技集團(tuán)公司第二研究所(簡稱中國電科二所)生產(chǎn)大樓內(nèi),100臺(tái)碳化硅(SiC)單晶生長設(shè)備正在高速運(yùn)行,SiC單晶就在這100臺(tái)設(shè)備里“奮力”生長。
2018-06-07 14:49:007568

SiC器件中SiC材料的物性和特征,功率器件的特征,SiC MOSFET特征概述

SiC(碳化硅)是一種由Si(硅)和C(碳)構(gòu)成的化合物半導(dǎo)體材料。SiC臨界擊穿場強(qiáng)是Si的10倍,帶隙是Si的3倍,熱導(dǎo)率是Si的3倍,所以被認(rèn)為是一種超越Si極限的功率器件材料。SiC中存在
2018-07-15 11:05:419257

晶體生長和晶圓制備的步驟教程詳解

沙子轉(zhuǎn)變?yōu)榘雽?dǎo)體級(jí)硅的制備,再將其轉(zhuǎn)變成晶體和晶圓,以及生產(chǎn)拋光晶圓要求的工藝步驟。這其中包括了用于制造操作晶圓的不同類型的描述。生長450mm直徑的晶體和450mm晶圓的制備存在的挑戰(zhàn)性。
2018-07-19 10:09:3113334

半導(dǎo)體制造教程之工藝晶體生長資料概述

本文檔的主要內(nèi)容詳細(xì)介紹的是半導(dǎo)體制造教程之工藝晶體生長資料概述 一、襯底材料的類型1.元素半導(dǎo)體 Si、Ge…。2. 化合物半導(dǎo)體 GaAs、SiC 、GaN…
2018-11-19 08:00:0040

GaN-SiC混合材料更薄和更高功率

瑞典的研究人員在碳化硅(SiC)上生長出更薄的IIIA族氮化物結(jié)構(gòu),以期實(shí)現(xiàn)高功率和高頻薄層高電子遷移率晶體管(T-HEMT)和其他器件。
2019-02-02 17:29:003593

使用PVT生長SiC晶體的籽晶固定方法詳細(xì)說明

本發(fā)明提供一種 PVT 法生長 SiC 晶體的籽晶固定方法,包括,將所述籽晶晶片邊緣通過粘結(jié)劑粘接于具有一定寬度以能可靠粘結(jié)固定所述籽晶的環(huán)形連接件的一端面 ;將所述連接件套裝在端部周邊邊緣開槽
2020-04-09 08:00:0017

一種適用于PVT法生長SiC晶體系統(tǒng)的測(cè)溫結(jié)構(gòu)詳細(xì)介紹

本實(shí)用新型公開一種適用于 PVT 法生長 SiC 晶體系統(tǒng)的測(cè)溫結(jié)構(gòu),所述系統(tǒng)具有用坩堝圍成的晶體生長晶體生長室,配置于生長室室內(nèi)頂部的籽晶托,和在所述晶體生長室外圍的保溫層 ;所述的測(cè)溫結(jié)構(gòu)包括
2020-04-09 08:00:003

基于簡單的支架多片4H-SiC化學(xué)氣相沉積同質(zhì)外延生長

雖然在商用化學(xué)氣相沉積設(shè)備中可以在一次運(yùn)行中實(shí)現(xiàn)多片4H-SiC襯底的同質(zhì)外延生長,但是必須將晶片裝載到可旋轉(zhuǎn)的大型基座上,這導(dǎo)致基座的直徑隨著數(shù)量或者外延晶片總面積的增加而增加。
2020-12-26 03:52:29492

SiC晶體具有哪些特性

碳化硅(SiC)在設(shè)計(jì)大功率電子器件方面優(yōu)于傳統(tǒng)硅,開發(fā)者們對(duì)SiC材料的物理特性還有性能有較多的認(rèn)識(shí),這種高性能化合物半導(dǎo)體的被廣泛采用,但在應(yīng)用中如何控制晶體的缺陷密度仍是一個(gè)挑戰(zhàn)。
2022-04-16 17:07:542689

SiC功率器件的主要特點(diǎn)

基于以日本、美國和歐洲為中心對(duì)生長材料特性和器件加工技術(shù)的廣泛研究,SiC SBD和金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)的生產(chǎn)已經(jīng)開始。然而,SiC功率MOSFET的性能仍遠(yuǎn)未達(dá)到材料的全部潛力。
2022-11-02 15:04:281551

半導(dǎo)體材料“3C-SiC”的晶體純度和質(zhì)量進(jìn)展

這次,合作團(tuán)隊(duì)使用 Air Water 開發(fā)的 3C-SiC 晶體,評(píng)估了熱導(dǎo)率并進(jìn)行了原子級(jí)分析。具體而言,首先,在硅(Si)基板上形成厚度100μm的3C-SiC。之后,去除 Si 以制造 3C-SiC 自支撐襯底。
2022-12-21 10:19:271802

高效SiC功率器件的演進(jìn)

SiC晶體是通過Lely升華技術(shù)生長的。晶體主要是6H-SiC,但包括其它多型體。1978年,Tairov和Tsvetkov發(fā)明了一種可復(fù)制的SiC晶塊生長方法。
2022-12-28 11:44:13717

天科合達(dá)談八英寸SiC

本實(shí)驗(yàn)通過以自主研發(fā)的由c軸偏向<11-20>方向4°的6英寸4H-SiC襯底作為籽晶和擴(kuò)徑生長的起始點(diǎn),采用物理氣相傳輸(physical vapor transport, PVT)法進(jìn)行擴(kuò)徑生長獲得直徑放大的SiC單晶。
2023-01-17 14:10:101194

SIC碳化硅MOSFET的制造工藝

介紹了SIC碳化硅材料的特性,包括材料結(jié)構(gòu),晶體制備,晶體生長,器件制造工藝細(xì)節(jié)等等。。。歡迎大家一起學(xué)習(xí)
2023-03-31 15:01:4817

SiC碳化硅單晶的生長原理

碳化硅單晶襯底材料(Silicon Carbide Single Crystal Substrate Materials,以下簡稱SiC襯底)也是晶體材料的一種,屬于寬禁帶半導(dǎo)體材料,具有耐高壓、耐高溫、高頻、低損耗等優(yōu)勢(shì),是制備大功率電力電子器件以及微波射頻器件的基礎(chǔ)性材料。
2023-05-18 09:54:341934

GaN外延生長方法及生長模式

由于GaN在高溫生長時(shí)N的離解壓很高,很難得到大尺寸的GaN單晶材料,因此,為了實(shí)現(xiàn)低成本、高效、高功率的GaN HEMTs器件,研究人員經(jīng)過幾十年的不斷研究,并不斷嘗試?yán)貌煌耐庋?b class="flag-6" style="color: red">生長方法在Si
2023-06-10 09:43:44682

8.2.10.3 4H-SiC反型層遷移率的實(shí)驗(yàn)結(jié)果∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

8.2.10.34H-SiC反型層遷移率的實(shí)驗(yàn)結(jié)果8.2.10反型層電子遷移率8.2金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)第8章單極型功率開關(guān)器件《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件
2022-03-05 10:43:22266

6.3.7 遷移率限制因素∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

6.3.7遷移率限制因素6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工藝《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:6.3.6不同晶面上的氧化硅/SiC界面特性∈《碳化硅技術(shù)
2022-01-21 09:37:00736

6.3.6 不同晶面上的氧化硅/SiC 界面特性∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

6.3.6不同晶面上的氧化硅/SiC界面特性6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工藝《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:6.3.5.5界面的不穩(wěn)定性∈《碳化硅技術(shù)
2022-01-21 09:35:56706

8.2.11 氧化層可靠性∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

8.2.11氧化層可靠性8.2金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)第8章單極型功率開關(guān)器件《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:8.2.10.34H-SiC
2022-03-07 09:51:01285

6.5 總結(jié)∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

6.5總結(jié)第6章碳化硅器件工藝《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:6.4.2.3p型SiC的歐姆接觸∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》6.4.2.2n型SiC
2022-01-27 09:16:44861

8.2.12 MOSFET 瞬態(tài)響應(yīng)∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

8.2.12MOSFET瞬態(tài)響應(yīng)8.2金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)第8章單極型功率開關(guān)器件《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:8.2.11氧化層可靠性
2022-03-07 09:38:20455

7.1.1 阻斷電壓∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

7.1.1阻斷電壓7.1SiC功率開關(guān)器件簡介第7章單極型和雙極型功率二極管《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:6.5總結(jié)∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件
2022-02-07 16:12:08568

《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》全書

和載流子濃度2.2.2光吸收系數(shù)和折射率2.2.1能帶結(jié)構(gòu)2.1晶體結(jié)構(gòu)第3章碳化硅晶體生長3.9總結(jié)3.8切片及拋光3.7化學(xué)氣相淀積法生長3C-SiC晶圓3.6溶液
2022-05-09 17:19:452152

6.4.1.2 SiC上的肖特基接觸∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

6.4.1.2SiC上的肖特基接觸6.4.1n型和p型SiC的肖特基接觸6.4金屬化第6章碳化硅器件工藝《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:6.4.1.1基本原理∈《碳化硅技術(shù)
2022-01-24 10:22:28480

6.3.4.1 SiC特有的基本現(xiàn)象∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

6.3.4.1SiC特有的基本現(xiàn)象6.3.4電學(xué)表征技術(shù)及其局限性6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工藝《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:6.3.3熱氧化氧化
2022-01-05 13:59:37493

6.4.2.1 基本原理∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

6.4.2.1基本原理6.4.2n型和p型SiC的歐姆接觸6.4金屬化第6章碳化硅器件工藝《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:6.4.1.2SiC上的肖特基接觸∈《碳化硅技術(shù)
2022-01-24 10:09:121034

6.4.2.2 n型SiC的歐姆接觸∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

6.4.2.2n型SiC的歐姆接觸6.4.2n型和p型SiC的歐姆接觸6.4金屬化第6章碳化硅器件工藝《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:6.4.2.1基本原理∈《碳化硅技術(shù)
2022-01-25 09:18:08743

5.3.2.1 壽命控制∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

5.3.2.1壽命控制5.3.1SiC中的主要深能級(jí)缺陷5.3SiC中的點(diǎn)缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技術(shù)《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:5.3.2載流子壽命“殺手
2022-01-06 09:38:25510

5.3.2 載流子壽命“殺手”∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

5.3.2載流子壽命“殺手”5.3.1SiC中的主要深能級(jí)缺陷5.3SiC中的點(diǎn)缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技術(shù)《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:5.3.1.2雜質(zhì)∈《碳化硅
2022-01-06 09:37:40535

5.3.1.2 雜質(zhì)∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

5.3.1.2雜質(zhì)5.3.1SiC中的主要深能級(jí)缺陷5.3SiC中的點(diǎn)缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技術(shù)《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:5.3.1.1本征缺陷∈《碳化硅技術(shù)
2022-01-06 09:30:23552

5.3.1.1 本征缺陷∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

5.3.1.1本征缺陷5.3.1SiC中的主要深能級(jí)缺陷5.3SiC中的點(diǎn)缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技術(shù)《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:5.2.3擴(kuò)展缺陷對(duì)SiC器件性能
2022-01-06 09:27:16693

6.4.2.3 p型SiC的歐姆接觸∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

6.4.2.3p型SiC的歐姆接觸6.4.2n型和p型SiC的歐姆接觸6.4金屬化第6章碳化硅器件工藝《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:6.4.2.2n型SiC的歐姆接觸
2022-01-26 10:08:16636

5.2.3 擴(kuò)展缺陷對(duì)SiC器件性能的影響∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

5.2.3擴(kuò)展缺陷對(duì)SiC器件性能的影響5.2SiC的擴(kuò)展缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技術(shù)《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》往期內(nèi)容:5.2.1SiC主要的擴(kuò)展缺陷&5.2.2
2022-01-06 09:25:55621

科友半導(dǎo)體突破8英寸SiC量產(chǎn)關(guān)鍵技術(shù)

科友半導(dǎo)體突破了8英寸SiC量產(chǎn)關(guān)鍵技術(shù),在晶體尺寸、厚度、缺陷控制、生長速率、制備成本、及裝備穩(wěn)定性等方面取得可喜成績。2023年4月,科友半導(dǎo)體8英寸SiC中試線正式貫通并進(jìn)入中試線生產(chǎn),打破了國際在寬禁帶半導(dǎo)體關(guān)鍵材料的限制和封鎖。
2023-06-25 14:47:29342

碳化硅技術(shù)壁壘是什么?碳化硅技術(shù)壁壘有哪些?

SiC 生產(chǎn)過程分為 SiC 單晶生長、外延層生長及器件制造三大步驟,對(duì)應(yīng)的是產(chǎn)業(yè)鏈襯底、外延、器件與模組四大環(huán)節(jié)。 主流制造襯底的方式首先以物理氣相升華法,在高溫真空環(huán)境下將粉料升華,通過溫場的控制在籽晶表面生 長出碳化硅晶體。
2023-08-04 11:32:13398

SiC材料及器件介紹

SiC,作為發(fā)展最成熟的寬禁帶半導(dǎo)體材料之一,具有禁帶寬度寬、臨界擊穿電場高、熱導(dǎo)率高、電子飽和漂移速度高及抗輻射能力強(qiáng)等特點(diǎn)。
2023-09-28 16:54:261287

利用碳化鉭的坩堝中物理氣相傳輸生長SiC和AlN晶體

Crystals Group Ltd.執(zhí)行總裁Yuri MAKAROV做了“利用碳化鉭的坩堝中物理氣相傳輸生長SiC和AlN晶體”的主題報(bào)告。
2023-12-09 14:47:15567

半導(dǎo)體行業(yè)之晶體生長和硅片準(zhǔn)備(一)

在接下來的一個(gè)章節(jié)里面,我們將主要介紹用砂子制備半導(dǎo)體級(jí)硅的方法,以及后續(xù)如何將其轉(zhuǎn)化為晶體和晶圓片(材料制備階段),以及如何來生產(chǎn)拋光晶圓的過程(晶體生長和晶圓制備)。
2023-12-18 09:30:21217

半導(dǎo)體行業(yè)之晶體生長和硅片準(zhǔn)備(四)

浮區(qū)晶體生長是本文所解釋的幾個(gè)過程之一,這項(xiàng)關(guān)鍵性的技術(shù)是在歷史早期發(fā)展起來的技術(shù),至今仍用于特殊用途的需求。
2023-12-28 09:12:07153

半導(dǎo)體行業(yè)之晶體生長和硅片準(zhǔn)備(五)

晶體生長的過程中,由于某些條件的引入將會(huì)導(dǎo)致結(jié)構(gòu)缺陷的生成。
2024-01-05 09:12:33123

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